Výsledky vyhledávání
- 1.0568569 - ÚPT 2023 RIV CZ eng A - Abstrakt
Láznička, Tomáš - Hrubanová, Kamila - Ježek, Jan - Kizovský, Martin - Bernatová, Silvie - Mrázová, Kateřina - Obruča, S. - Zemánek, Pavel - Krzyžánek, Vladislav
Assembly for Cryo-SEM/Raman Microspectroscopy sample analysis.
16th Multinational Congress on Microscopy, 16MCM, 04-09 September 2022, Brno, Czech Republic. Book of abstracts. Brno: Czechoslovak Microscopy Society, 2022 - (Krzyžánek, V.; Hrubanová, K.; Hozák, P.; Müllerová, I.; Šlouf, M.). s. 63-64. ISBN 978-80-11-02253-2.
[Multinational Congress on Microscopy /16./. 04.09.2022-09.09.2022, Brno]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Grant ostatní: AV ČR(CZ) MSM100652102
Program: Program na podporu mezinárodní spolupráce začínajících výzkumných pracovníků
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Cryo-SEM * Raman spectroscopy * electron microscopy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
https://www.16mcm.cz/wp-content/uploads/2022/09/16MCM-abstract-book.pdf
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0339859 - 2.0568495 - ÚPT 2023 RIV CZ eng A - Abstrakt
Průcha, Lukáš - Lejeune, M. - Kizovský, Martin - Materna Mikmeková, Eliška
Combining Low Energy Electron Microscopy and Thermal Raman Spectroscopy for Graphene Analysis.
16th Multinational Congress on Microscopy, 16MCM, 04-09 September 2022, Brno, Czech Republic. Book of abstracts. Brno: Czechoslovak Microscopy Society, 2022 - (Krzyžánek, V.; Hrubanová, K.; Hozák, P.; Müllerová, I.; Šlouf, M.). s. 166-167. ISBN 978-80-11-02253-2.
[Multinational Congress on Microscopy /16./. 04.09.2022-09.09.2022, Brno]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: graphene * SLEEM * Raman Spectroscopy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
https://www.16mcm.cz/wp-content/uploads/2022/09/16MCM-abstract-book.pdf
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0339795 - 3.0568181 - ÚPT 2023 PL eng A - Abstrakt
Bernatová, Silvie - Kizovský, Martin - Donato, M. G. - Foti, A. - Zemánek, Pavel - Samek, Ota - Maragò, O. M. - Gucciardi, P. G.
Optical force aggregation of gold nanoparticles as a tool to fabrication a multifunctional sensor.
Book of Abstracts. 22nd Polish-Slovak-Czech Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics, September 5-9, 2022, Wojanów, Poland. Wrocław: Wroclaw University of Science and Technology, 2022 - (Sztylińska, K.). s. 57
[Polish-Slovak-Czech Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics /22./. 05.09.2022-09.09.2022, Wojanow]
Grant ostatní: AV ČR(CZ) MSM100652101
Program: Program na podporu mezinárodní spolupráce začínajících výzkumných pracovníků
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: optical printing * optical pushing * surface enhanced Raman spectroscopy * nanoplastics * sensor * biomolecule
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
https://psc2022.pwr.edu.pl/docs/pscoc2022_book_of_abstracts.pdf
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0339516 - 4.0552214 - ÚPT 2022 CZ eng A - Abstrakt
Pilát, Zdeněk - Jonáš, Alexandr - Pilátová, J. - Klementová, Tereza - Bernatová, Silvie - Šiler, Martin - Maňka, Tadeáš - Kizovský, Martin - Růžička, F. - Pantůček, R. - Neugebauer, U. - Samek, Ota - Zemánek, Pavel
Analysis of bacteriophage-host interaction by Raman tweezers.
LA61. Sborník příspěvků multioborové konference LASER61. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2021 - (Růžička, B.). s. 67. ISBN 978-80-87441-28-2.
[LASER61. 20.10.2021-22.10.2021, Lednice]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0327352 - 5.0517435 - ÚPT 2020 PT eng A - Abstrakt
Průcha, Lukáš - Piňos, Jakub - Kizovský, Martin - Mikmeková, Eliška
Graphene surface analysis and layer counting using scanning low energy electron microscopy.
5th Edition of the European Graphene Forum 2019. Book of Abstracts. Lisbon: SETCOR, 2019.
[Edition of the European Graphene Forum 2019 /5./. 23.10.2019-25.10.2019, Lisbon]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: graphene analysis * low energy electron microscopy * scanning electron microscopy * layer counting
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302742