Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0582474 - ÚFP 2024 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Akhmetov, F. - Milov, I. - Semin, S. - Formisano, F. - Medvedev, Nikita - Sturm, J.M. - Zhakhovsky, V.V. - Makhotkin, I.A. - Kimel, A. - Ackermann, M.
    Laser-induced electron dynamics and surface modification in ruthenium thin films.
    Vacuum. Roč. 212, June (2023), č. článku 112045. ISSN 0042-207X. E-ISSN 1879-2715
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2018114; GA MŠMT LTT17015; GA MŠMT EF16_013/0001552
    Grant ostatní: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy - GA MŠk(CZ) LM2018140
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: Femtosecond laser damage * Fermi smearing * Pump-probe thermoreflectance * Ruthenium * Thin films * Two-temperature molecular dynamics
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
    Impakt faktor: 4, rok: 2022
    Způsob publikování: Open access
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0042207X23002427?via%3Dihub
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0350538
     
     
  2. 2.
    0572145 - FZÚ 2024 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Akhmetov, F. - Milov, I. - Semin, S. - Formisano, F. - Medvedev, Nikita - Sturm, J.M. - Zhakhovsky, V.V. - Makhotkin, I.A. - Kimel, A. - Ackermann, M.
    Laser-induced electron dynamics and surface modification in ruthenium thin films.
    Vacuum. Roč. 212, June (2023), č. článku 112045. ISSN 0042-207X. E-ISSN 1879-2715
    Grant CEP: GA MŠMT LTT17015; GA MŠMT(CZ) LM2018114; GA MŠMT EF16_027/0008215
    Výzkumná infrastruktura: e-INFRA CZ - 90140
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: femtosecond laser damage * thin films * Ruthenium * two-temperature molecular dynamics * Fermi smearing * pump-probe thermoreflectance
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
    Impakt faktor: 4, rok: 2022
    Způsob publikování: Open access
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0350362
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    0572145.pdf03.2 MBCC LicenceVydavatelský postprintpovolen
     
     
  3. 3.
    0540442 - ÚFP 2021 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Vozda, V. - Burian, Tomáš - Hájková, V. - Juha, Libor - Enkisch, H. - Faatz, B. - Hermann, M. - Jacyna, I. - Jurek, M. - Keitel, B. - Klinger, D. - Loch, R. - Louis, E. - Makhotkin, I.A. - Plönjes, E. - Saksl, K. - Siewert, F. - Sobierajski, R. - Strobel, S. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Vries de, M. S. - Zelinger, Z. - Chalupský, J.
    Characterization of megahertz X-ray laser beams by multishot desorption imprints in PMMA.
    Optics Express. Roč. 28, č. 18 (2020), s. 25664-25681. ISSN 1094-4087
    Grant CEP: GA MŠMT EF16_013/0001552
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: X-ray * laser beams * PMMA
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
    Impakt faktor: 3.894, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    https://www.osapublishing.org/oe/fulltext.cfm?uri=oe-28-18-25664&id=434470
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0318045
     
     
  4. 4.
    0540378 - FZÚ 2021 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Vozda, Vojtěch - Burian, Tomáš - Hájková, Věra - Juha, Libor - Enkisch, H. - Faatz, B. - Hermann, M. - Jacyna, I. - Jurek, M. - Keitel, B. - Klinger, D. - Loch, R. - Louis, E. - Makhotkin, I.A. - Ploenjes, E. - Saksl, K. - Siewert, F. - Sobierajski, R. - Strobel, S. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - de Vries, G. - Zelinger, Zdeněk - Chalupský, Jaromír
    Characterization of megahertz X-ray laser beams by multishot desorption imprints in PMMA.
    Optics Express. Roč. 28, č. 18 (2020), s. 25664-25681. ISSN 1094-4087
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA17-05167s
    GRANT EU: European Commission(XE) 654148 - LASERLAB-EUROPE
    Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61388955
    Klíčová slova: multishot desorption imprints * free-electron laser (FEL) X-ray laser * poly(methyl methacrylate) (PMMA)
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics); Physical chemistry (UFCH-W)
    Impakt faktor: 3.894, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0318008
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    0540378.pdf11.9 MBOA vydavateleVydavatelský postprintpovolen
     
     
  5. 5.
    0540252 - ÚFP 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Milov, I. - Zhakhovsky, V. - Ilnitsky, D. - Migdal, K. - Khokhlov, V. - Petrov, Y. - Inogamov, N. - Lipp, V. - Medvedev, Nikita - Ziaja, B. - Medvedev, V. - Makhotkin, I.A. - Louis, E. - Bijkerk, F.
    Two-level ablation and damage morphology of Ru films under femtosecond extreme UV irradiation.
    Applied Surface Science. Roč. 528, October (2020), s. 1-18, č. článku 146952. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
    Grant CEP: GA MŠMT LTT17015; GA MŠMT(CZ) LM2015083
    GRANT EU: European Commission(XE) 654148 - LASERLAB-EUROPE
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: Extreme ultraviolet * Femtosecond laser ablation * Free-electron laser * Molecular dynamics * Monte Carlo * Thin films
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
    Impakt faktor: 6.707, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433220317098?via%3Dihub
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0317887
     
     
  6. 6.
    0532844 - FZÚ 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Milov, I. - Zhakhovsky, V. - Ilnitsky, D. - Migdal, K. - Khokhlov, V. - Petrov, Y. - Inogamov, N. - Lipp, V. - Medvedev, Nikita - Ziaja, B. - Medvedev, V. - Makhotkin, I.A. - Louis, E. - Bijkerk, F.
    Two-level ablation and damage morphology of Ru films under femtosecond extreme UV irradiation.
    Applied Surface Science. Roč. 528, Oct (2020), s. 1-18, č. článku 146952. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
    GRANT EU: European Commission(XE) 654148 - LASERLAB-EUROPE
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: femtosecond laser ablation * free-electron laser * extreme ultraviolet * molecular dynamics * Monte Carlo * thin films
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
    Impakt faktor: 6.707, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.146952
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0311232
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    532844.pdf17.3 MBLicence CCVydavatelský postprintpovolen
     
     
  7. 7.
    0525177 - FZÚ 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Milov, I. - Lipp, V. - Ilnitsky, D. - Medvedev, Nikita - Migdal, K. - Zhakhovsky, V. - Khokhlov, V. - Petrov, Y. - Inogamov, N. - Semin, S. - Kimel, A. - Ziaja, B. - Makhotkin, I.A. - Louis, E. - Bijkerk, F.
    Similarity in ruthenium damage induced by photons with different energies: From visible light to hard X-rays.
    Applied Surface Science. Roč. 501, Jan (2020), s. 1-13, č. článku 143973. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
    Grant CEP: GA MŠMT LTT17015; GA MŠMT(CZ) LM2015083
    GRANT EU: European Commission(XE) 654148 - LASERLAB-EUROPE
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: femtosecond laser ablation * X-ray free electron lasers * Monte Carlo simulations * two-temperature hydrodynamics * thin films * extreme ultraviolet
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Impakt faktor: 6.707, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0309374
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    0525177.pdf02.3 MBCC licenceVydavatelský postprintpovolen
     
     
  8. 8.
    0517622 - ÚFP 2020 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Milov, I. - Lipp, V. - Ilnitsky, D. - Medvedev, Nikita - Migdałek, G. - Zhakhovsky, V. - Khokhlov, V. - Petrov, Y. - Inogamov, N. - Semin, S. - Kimel, A.V. - Ziaja, B. - Makhotkin, I.A. - Louis, E. - Bijkerk, F.
    Similarity in ruthenium damage induced by photons with different energies: From visible light to hard X-rays.
    Applied Surface Science. Roč. 501, January (2020), č. článku 143973. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2015083; GA MŠMT LTT17015
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: Extreme ultraviolet * Femtosecond laser ablation * Monte Carlo simulations * Thin films * Two-temperature hydrodynamics * X-ray free electron lasers
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
    Impakt faktor: 6.707, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433219327898?via%3Dihub
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302930
     
     
  9. 9.
    0503529 - ÚFP 2019 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Makhotkin, I.A. - Milov, I. - Chalupský, J. - Tiedtke, K. - Enkisch, H. - de Vries, G. - Scholze, F. - Siewert, F. - Sturm, J.M. - Nikolaev, K. V. - van de Kruijs, R.W.E. - Smithers, M.A. - van Wolferen, H.A.G.M. - Keim, E.G. - Louis, E. - Jacyna, I. - Jurek, M. - Klinger, D. - Pełka, J.B. - Juha, Libor - Hájková, V. - Vozda, V. - Burian, Tomáš - Saksl, K. - Faatz, B. - Keitel, B. - Plönjes, E. - Schreiber, S. - Toleikis, S. - Loch, R. - Hermann, M. - Strobel, S. - Donker, R. - Mey, T. - Sobierajski, R.
    Damage accumulation in thin ruthenium films induced by repetitive exposure to femtosecond XUV pulses below the single-shot ablation threshold.
    Journal of the Optical Society of America. B. Roč. 35, č. 11 (2018), s. 2799-2805. ISSN 0740-3224. E-ISSN 1520-8540
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2015083; GA MŠMT LTT17015; GA MŠMT EF16_013/0001552; GA ČR GPP205/11/P712
    GRANT EU: European Commission(XE) 654148 - LASERLAB-EUROPE
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: interaction of femtosecond XUV pulses * single-shot ablation threshold * damage accumulation in thin ruthenium films
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Impakt faktor: 2.284, rok: 2018
    https://www.nature.com/articles/s41598-018-36176-8
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0295348
     
     
  10. 10.
    0500189 - ÚFP 2019 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Milov, I. - Lipp, V. - Medvedev, Nikita - Makhotkin, I.A. - Louis, E. - Bijkerk, F.
    Modeling of XUV-induced damage in Ru films: the role of model parameters.
    Journal of the Optical Society of America. B. Roč. 35, č. 10 (2018), B43-B53. ISSN 0740-3224. E-ISSN 1520-8540
    Grant CEP: GA MŠMT LTT17015; GA MŠMT(CZ) LM2015083
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: faser damage * free-electron lasers * X-rays * soft x-rays * extreme ultraviolet (EUV) * metals * thin film
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Impakt faktor: 2.284, rok: 2018
    http://bib-pubdb1.desy.de/record/410525/files/josab-35-10-B43.pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0292306
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.