Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0489644 - ÚFP 2019 RIV DK eng J - Článek v odborném periodiku
    Makhotkin, I.A. - Sobierajski, R. - Chalupský, J. - Tiedtke, K. - de Vries, G. - Stoermer, M. - Scholze, F. - Siewert, F. - van de Kruijs, R.W.E. - Louis, E. - Jacyna, I. - Jurek, M. - Klinger, D. - Nittler, L. - Syryanyy, Y. - Juha, Libor - Hájková, V. - Vozda, V. - Burian, Tomáš - Saksl, K. - Faatz, B. - Keitel, B. - Ploenjes, E. - Schreiber, S. - Toleikis, S. - Loch, R. - Hermann, M. - Strobel, S. - Nienhuys, H.-K. - Gwalt, G. - Mey, T. - Enkisch, H.
    Experimental study of EUV mirror radiation damage resistance under long-term free-electron laser exposures below the single-shot damage threshold.
    Journal of Synchrotron Radiation. Roč. 25, č. 1 (2018), s. 77-84. ISSN 0909-0495. E-ISSN 1600-5775.
    [Workshop on FEL Photon Diagnostics, Instrumentation and Beamline Design (PhotonDiag2017). Stanford, 01.05.2017-03.05.2017]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-29772S; GA MŠMT LG15013
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: free-electron laser induced damage * EUV optics * thin films * FELs
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
    Impakt faktor: 2.452, rok: 2018
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0284055
     
     
  2. 2.
    0487414 - FZÚ 2019 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Makhotkin, I. - Sobierajski, R. - Chalupský, Jaromír - Tiedtke, K. - de Vries, G. - Stoermer, M. - Scholze, F. - Siewert, F. - van de Kruijs, R.W.E. - Milov, I. - Louis, E. - Jacyna, I. - Jurek, M. - Klinger, D. - Nittler, L. - Syryanyy, Y. - Juha, Libor - Hájková, Věra - Vozda, Vojtěch - Burian, Tomáš - Saksl, Karel - Faatz, B. - Keitel, B. - Ploenjes, E. - Schreiber, S. - Toleikis, S. - Loch, R.A. - Hermann, M. - Strobel, S. - Nienhuys, H.-K. - Gwalt, G. - Mey, T. - Enkisch, H.
    Experimental study of EUV mirror radiation damage resistance under long-term free-electron laser exposures below the single-shot damage threshold.
    Journal of Synchrotron Radiation. Roč. 25, č. 1 (2018), s. 77-84. ISSN 0909-0495. E-ISSN 1600-5775.
    [Workshop on FEL Photon Diagnostics, Instrumentation and Beamline Design (PhotonDiag2017). Stanford, 01.05.2017-03.05.2017]
    Grant CEP: GA MŠMT LG15013; GA ČR(CZ) GA17-05167s; GA ČR(CZ) GA14-29772S
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: free-electron laser induced damage * EUV optics * thin films * FELs
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
    Impakt faktor: 2.452, rok: 2018
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0283325
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.