Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0498732 - ÚPT 2019 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Šerý, Mojmír - Ježek, Jan - Jákl, Petr - Škereň, M. - Zemánek, Pavel
    Measurement system for characterization of angular and spectral distribution of LED based sources.
    21st Czech-Polish-Slovak Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics. (Proceedings of SPIE 10976). Bellingham: SPIE, 2018 - (Zemánek, P.), č. článku 1097607. ISBN 9781510626072. ISSN 0277-786X.
    [Czech-Polish-Slovak Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics /21./. Lednice (CZ), 03.09.2018-07.09.2018]
    Grant CEP: GA MPO FV10618; GA TA ČR TE01020233; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: light emitting diodes * light distribution
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0291052
     
     
  2. 2.
    0482751 - ÚPT 2018 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Horáček, Miroslav - Meluzín, Petr - Krátký, Stanislav - Knápek, Alexandr - Mika, Filip - Chlumská, Jana - Matějka, František - Král, Stanislav - Brunn, Ondřej - Giričová, D. - Kopal, Jaroslav - Kolařík, Vladimír
    Deterministicky aperiodické obrazové zařízení.
    [Deterministic Aperiodic Image Device.]
    Sborník příspěvků multioborové konference LASER57. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2017 - (Růžička, B.), s. 34-35. ISBN 978-80-87441-21-3.
    [LASER57. Třešť (CZ), 08.11.2017-10.11.2017]
    Grant CEP: GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01; GA TA ČR TE01020233; GA TA ČR(CZ) TG03010046; GA MPO(CZ) FV10618
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: e–beam lithography * diffractive optically variable image device
    Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0278201