Výsledky vyhledávání
- 1.0498732 - ÚPT 2019 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Šerý, Mojmír - Ježek, Jan - Jákl, Petr - Škereň, M. - Zemánek, Pavel
Measurement system for characterization of angular and spectral distribution of LED based sources.
21st Czech-Polish-Slovak Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics. (Proceedings of SPIE 10976). Bellingham: SPIE, 2018 - (Zemánek, P.), č. článku 1097607. ISBN 9781510626072. ISSN 0277-786X.
[Czech-Polish-Slovak Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics /21./. Lednice (CZ), 03.09.2018-07.09.2018]
Grant CEP: GA MPO FV10618; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: light emitting diodes * light distribution
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0291052 - 2.0482751 - ÚPT 2018 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Horáček, Miroslav - Meluzín, Petr - Krátký, Stanislav - Knápek, Alexandr - Mika, Filip - Chlumská, Jana - Matějka, František - Král, Stanislav - Brunn, Ondřej - Giričová, D. - Kopal, Jaroslav - Kolařík, Vladimír
Deterministicky aperiodické obrazové zařízení.
[Deterministic Aperiodic Image Device.]
Sborník příspěvků multioborové konference LASER57. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2017 - (Růžička, B.), s. 34-35. ISBN 978-80-87441-21-3.
[LASER57. Třešť (CZ), 08.11.2017-10.11.2017]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01; GA TA ČR TE01020233; GA TA ČR(CZ) TG03010046; GA MPO(CZ) FV10618
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: e–beam lithography * diffractive optically variable image device
Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0278201