0460289 - ÚFE 2017 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Proboštová, Jana - Slánička, Jiří - Mrázek, Jan - Podrazký, Ondřej - Benda, Adam - Peterka, Pavel
Measurement of refractive index profile of non-symmetric, complex silica preforms with high refractive index differences.
Proceedings of SPIE. Vol. 9886. Bellingham, WA: SPIE, 2016 - (Kalli, K.; Mendez, A.), č. článku 98861G. ISSN 0277-786X.
[Micro-Structured and Specialty Optical Fibres IV. Brussels (BE), 04.04.2016-06.04.2016]
Institucionální podpora: RVO:67985882
Klíčová slova: preform * refractive index * profiler
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
DOI: https://doi.org/10.1117/12.2227631
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260405