Výsledky vyhledávání
- 1.0524886 - ÚPT 2021 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Adámková, Kateřina - Trudicová, M. - Hrubanová, Kamila - Sedláček, P. - Krzyžánek, Vladislav
An appropriate method for assessing hydrogel pore sizes by cryo-sem.
10th Anniversary International Conference on Nanomaterials - Research and Application (NANOCON 2018). Ostrava: Tanger, 2019, s. 415-420. ISBN 978-80-87294-89-5.
[Anniversary International Conference on Nanomaterials - Research and Application (NANOCON) /10./. Brno (CZ), 17.10.2018-19.10.2018]
Grant CEP: GA ČR GA17-15451S; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: hydrogelcryo-SEM * agarose * cryo-SEM * freezing methods * image analysis
Obor OECD: Polymer science
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0309123 - 2.0494362 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Adámková, Kateřina - Hrubanová, Kamila - Samek, Ota - Trudičová, M. - Sedláček, P. - Krzyžánek, Vladislav
Structure investigation of hydrogels using a cryo-SEM.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 26-28. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA16-12477S; GA ČR GA17-15451S; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: hydrogel * cryo-SEM * raman spectroscopy * high pressure freezing * freeze-etching * hyaluronic acid * agarose
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287592 - 3.0481587 - ÚPT 2018 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrubanová, Kamila - Krzyžánek, Vladislav - Samek, Ota - Šiler, Martin - Zemánek, Pavel - Hároniková, A. - Marová, I.
Monitoring lipid production in yeast using SEM and Raman spectroscopy.
13th Multinational Congress on Microscopy: Book of Abstracts. Zagreb: Ruder Bošković Institute, Croatian Microscopy Society, 2017 - (Gajović, A.; Weber, I.; Kovačević, G.; Čadež, V.; Šegota, S.; Peharec Štefanić, P.; Vidoš, A.), s. 308-309. ISBN 978-953-7941-19-2.
[Multinational Congress on Microscopy /13./. Rovinj (HR), 24.09.2017-29.09.2017]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA15-20645S; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: yeast * lipid bodies * SEM * Raman spectroscopy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0277136 - 4.0481583 - ÚPT 2018 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Vaškovicová, Naděžda - Skoupý, Radim - Hrubanová, Kamila - Kulich, P. - Turánek, J. - Krzyžánek, Vladislav
Localization of nanodiamonds inside cancer cells using cathodoluminescence imaging in the cryo-SEM.
13th Multinational Congress on Microscopy: Book of Abstracts. Zagreb: Ruder Bošković Institute, Croatian Microscopy Society, 2017 - (Gajović, A.; Weber, I.; Kovačević, G.; Čadež, V.; Šegota, S.; Peharec Štefanić, P.; Vidoš, A.), s. 80-81. ISBN 978-953-7941-19-2.
[Multinational Congress on Microscopy /13./. Rovinj (HR), 24.09.2017-29.09.2017]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA17-15451S; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: cryo-SEM * cathodoluminescence * nanodiamonds * cancer cells * THP1 cells
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0277125 - 5.0465339 - ÚPT 2017 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrubanová, Kamila - Skoupý, Radim - Nebesářová, Jana - Růžička, F. - Krzyžánek, Vladislav
The sample preparation for cryo-SEM: the real ultrastructure of microbial biofilm or just artifacts?
EMC2016. The 16th European Microscopy Congress. Proceedings. Oxford: Wiley, 2016, s. 203-204. ISBN 9783527808465.
[EMC2016. European Microscopy Congress /16./. Lyon (FR), 28.08.2016-02.09.2016]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA ČR(CZ) GA16-12477S
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Klíčová slova: biofilm * Cryo-SEM * HPF
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/9783527808465.EMC2016.6907/pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263955 - 6.0465097 - ÚPT 2017 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Obruča, S. - Doskočil, L. - Krzyžánek, Vladislav - Hrubanová, Kamila - Sedláček, P. - Mravec, F. - Samek, Ota - Kučera, J. - Benešová, P. - Márová, I.
Polyhydroxyalkanoates in bacterial cells – more than just storage materials.
Materials Science Forum. Vol. 851. London: Trans Tech Publications, 2016, s. 20-25. ISSN 1662-9752.
[Conference on Chemistry and Life /6./. Brno (CZ), 02.09.2016-04.09.2016]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA ČR(CZ) GA15-20645S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: polyhydroxyalkanoates * stress survival * bacterial cell cytoplasm * analytical centrifugation * Cryo-SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263812 - 7.0460214 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Šiler, Martin - Samek, Ota - Bernatová, Silvie - Mlynariková, K. - Ježek, Jan - Šerý, Mojmír - Krzyžánek, Vladislav - Hrubanová, Kamila - Holá, M. - Růžička, F. - Zemánek, Pavel
Principal component analysis of Raman spectroscopy data for determination of biofilm forming bacteria and yeasts.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 66-67. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA15-20645S; GA ČR(CZ) GA16-12477S; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * biofilm * Raman spectra
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260346 - 8.0452286 - ÚPT 2016 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krzyžánek, Vladislav - Skoupý, Radim - Hrubanová, Kamila - Kočová, L. - Nebesářová, Jana
Influence of ultrathin resin section aging and its reduction for imaging in the low voltage STEM.
MC 2015. Microscopy Conference Proceedings. Göttingen: DGE, 2015, s. 817-818.
[Microscopy Conference 2015. Göttingen (DE), 06.09.2015-11.09.2015]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Klíčová slova: STEM * ultrathin resin
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253311 - 9.0452285 - ÚPT 2016 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrubanová, Kamila - Samek, Ota - Obruča, S. - Hároniková, A. - Krzyžánek, Vladislav
Scanning electron microscopy and Raman spectroscopy of microorganisms related to biofuels and biopolymer production.
MC 2015. Microscopy Conference Proceedings. Göttingen: DGE, 2015, s. 700-701.
[Microscopy Conference 2015. Göttingen (DE), 06.09.2015-11.09.2015]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SEM * Raman spectroscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253310 - 10.0436824 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krzyžánek, Vladislav - Novotná, V. - Hrubanová, Kamila - Nebesářová, J.
Beam damage of embedding media sections and their investigations by SEM.
18th International Microscopy Congres. Proceedings. Praha: Czechoslovak Microscopy Society, 2014. ISBN 978-80-260-6720-7.
[International Microscopy Congres /18./. Praha (CZ), 07.09.2014-12.09.2014]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA ČR(CZ) GA14-20012S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: beam damage * mass determination * ADF imaging
Kód oboru RIV: JB - Senzory, čidla, měření a regulace
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0240483