Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0467526 - ÚPT 2017 PL eng A - Abstrakt
    Řeřucha, Šimon - Pham, Minh Tuan - Čížek, Martin - Hucl, Václav - Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Yacoot, A.
    DBR diode based laser source working at 633 nm for dimensional nanometrology.
    NanoScale 2016. 11th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 7th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods. Wroclaw: Wroclaw University of Technology, 2016. s. 109-110.
    [NanoScale 2016. Seminar on Quantitative Microscopy (QM) /11./ and Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods /7./. 09.03.2016-11.03.2016, Wroclaw]
    Grant CEP: GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01; GA ČR GB14-36681G; GA TA ČR TE01020233
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: laser metrology * DBR laser diode * laser interferometry * displacement metrology * laser system
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0265622
     
     
  2. 2.
    0452606 - ÚPT 2016 CZ eng A - Abstrakt
    Šiler, Martin - Zemánek, Pavel
    Stability and Heating of a Micro-Particle Trapped by Optical Tweezers: FEM Analysis Using Comsol Multiphysics.
    Technical Computing Prague 2015. Sborník příspěvků. Praha: Humusoft, 2015.
    [Technical Computing Prague 2015. 04.11.2015, Praha]
    Grant CEP: GA ČR GB14-36681G
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253565