Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0459102 - ÚPT 2017 RIV HR eng M - Část monografie knihy
    Frank, Luděk
    Scanning Electron Microscopy with a Retarded Primary Beam.
    Modern Electron Microscopy in Physical and Life Sciences. Rijeka: InTech, 2016 - (Janeček, M.; Král, R.), s. 49-78. ISBN 978-953-51-2252-4
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning electron microscopy * scanning transmission electron microscopy * slow electrons * electron microscopy of materials * biomedical eletron microscopy
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0259355
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.