Výsledky vyhledávání
- 1.0540306 - ÚPT 2021 CZ eng A - Abstrakt
Řiháček, Tomáš - Horák, M. - Schachinger, T. - Mika, Filip - Matějka, Milan - Fořt, Tomáš - Radlička, Tomáš - Novák, L. - Seďa, B. - McMorran, B.J. - Béché, A. - Verbeeck, J. - Müllerová, Ilona
Electron vortex beams in the scanning electron microscope.
Microscopy 2020. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2020. s. 42.
[Microscopy 2020. 06.10.2020-07.10.2020, Lednice]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron vortex beams * SEM
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0317957
- 2.0512151 - ÚPT 2020 JO eng A - Abstrakt
Matějka, Milan - Chlumská, Jana - Krátký, Stanislav - Řiháček, Tomáš - Knápek, Alexandr - Kolařík, Vladimír
Fabrication of functional nanostructures in thin silicon nitride membranes.
Fourth International Symposium on Dielectric Materials and Applications (ISyDMA 4). Book of Abstracts. Amman: Jordan University of Science & Technology, 2019.
[The Fourth International Symposium on Dielectric Materials and Applications (ISyDMA 4). 02.05.2019-04.05.2019, Amman]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: thin dielectric layers * silicon nitride * membranes * electron beam lithography
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302363
- 3.0512017 - ÚPT 2020 CZ eng A - Abstrakt
Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Řiháček, Tomáš - Knápek, Alexandr - Kolařík, Vladimír
Functional nano–structuring of thin silicon nitride membranes.
5th IMAPS Flash Conference. Book of Abstracts. Brno: University of Technology, 2019. s. 74-75.
[International Microelectronics Assembly and Packaging Society Flash Conference /5./. IMAPS. 24.10.2019-25.10.2019, Brno]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302234
- 4.0510323 - ÚPT 2020 DE eng A - Abstrakt
Řiháček, Tomáš - Mika, Filip - Horák, M. - Schachinger, T. - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Müllerová, Ilona
Creation and detection of electron vortex beams in a scanning electron microscope.
Microscopy Conference: MC 2019. Abstracts. Berlin: DSE, 2019. s. 409-410.
[Microscopy Conference : MC 2019. 01.09.2019-05.09.2019, Berlin]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: detection of electron vortex beams * SEM
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
https://www.microscopy-conference.de
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300832
- 5.0493460 - ÚPT 2019 DE eng A - Abstrakt
Mrňa, Libor - Řiháček, Tomáš - Šarbort, Martin - Horník, Petr
Solar absorber with structured surface.
10th International Laser Symposium & International Symposium „Tailored Joining“. Book of Abstracts. Dresden: Fraunhofer, 2018. s. 88.
[International Laser Symposium & International Symposium „Tailored Joining“ /10./. 27.02.2018-28.02.2018, Dresden]
Grant CEP: GA TA ČR TA04020456; GA MŠk(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: solar absorber * laser welding * hydroforming * simulation
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0286826
- 6.0493331 - ÚPT 2019 US eng A - Abstrakt
Mikmeková, Eliška - Paták, Aleš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Daniel, Benjamin - Konvalina, Ivo - Řiháček, Tomáš - Zouhar, Martin - Zaporozchenko, A. - Lejeune, M.
Low and Ultra-low Energy Scanning Electron Microscopy of 2D Transition Metal Dichalcogenides: Experiments and Simulations.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 24, S1 (2018), s. 1564-1565. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[Microscopy & Microanalysis 2018 Meeting. 05.08.2018-09.08.2018, Baltimore]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: low and ultra-low energy * SEM * 2D transition metal dichalcogenides * experiments and simulations
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0286714
- 7.0480603 - ÚPT 2018 AT eng A - Abstrakt
Řiháček, Tomáš - Müllerová, Ilona
Effect of axial aberrations on the degree of coherence in SEM.
Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons 2017 (SIMDALEE2017). Book of Abstracts.. Wien: Institut für Angewandte Physik, 2017. s. 50.
[SIMDALEE2017. Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons. 18.09.2017-22.09.2017, Pula]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: axial aberrations * SEM
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0276339
- 8.0452602 - ÚPT 2016 CZ eng A - Abstrakt
Řiháček, Tomáš - Müllerová, Ilona
Recent progress in applications of electron vortex beams.
Mikroskopie 2015. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2015. s. 79-80.
[Mikroskopie 2015. 12.05.2015-13.05.2015, Lednice]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron vortex beam
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253557
- 9.0431335 - ÚPT 2015 CZ eng A - Abstrakt
Řiháček, Tomáš - Lenc, M. - Müllerová, Ilona
Measurement of coherence properties of scanning electron microscope.
9th International Conference on Charged Particle Optics. Book of Abstracts. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v. v. i, 2014. s. 65. ISBN 978-80-87441-11-4.
[International Conference on Charged Parrticle Optics /9./. 31.08.2014-05.09.2014, Brno]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: coherence * diffraction * scanning electron microscope
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0236396