Výsledky vyhledávání
- 1.0559444 - ÚPT 2023 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Schánilec, V. - Brunn, Ondřej - Horáček, Miroslav - Krátký, Stanislav - Meluzín, Petr - Šikola, T. - Canals, B. - Rougemaille, N.
Approaching the Topological Low-Energy Physics of the F Model in a Two-Dimensional Magnetic Lattice.
Physical Review Letters. Roč. 129, č. 2 (2022), č. článku 027202. ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114
Výzkumná infrastruktura: CzechNanoLab - 90110
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: F-model * artificial spin ice * micromagnetism
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 8.6, rok: 2022
Způsob publikování: Omezený přístup
https://journals.aps.org/prl/abstract/10.1103/PhysRevLett.129.027202
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0333413 - 2.0559083 - ÚPT 2023 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Krátký, Stanislav - Venos, Š. - Kolařík, Vladimír - Pokorný, Pavel - Úlehla, L.
Příprava DOE generujících korigovaný gaussovský svazek pro aplikace s vysoce výkonnými lasery.
[The fabrication of DOE for Gaussian beam adjustment in the field of high power lasers.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 67, č. 6 (2022), s. 138-141. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA MPO(CZ) FV40197
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: diffractive optical element * grayscale e-beam lithography * glass etching * Gaussian beam * laser beam machining
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Způsob publikování: Omezený přístup
https://jmo.fzu.cz/sites/jmo.fzu.cz/files/oldweb/2022/2022-06/jmo_22_06_obsah.pdf
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0332543 - 3.0548489 - ÚPT 2022 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Tučková, Tereza - Šiler, Martin - Boonzajer Flaes, D. E. - Jákl, Petr - Turtaev, S. - Krátký, Stanislav - Heintzmann, R. - Uhlířová, Hana - Čižmár, Tomáš
Computational image enhancement of multimode fibre-based holographic endo-microscopy: harnessing the muddy modes.
Optics Express. Roč. 29, č. 23 (2021), s. 38206-38220. ISSN 1094-4087
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT EF15_003/0000476; GA MŠMT ED0017/01/01
GRANT EU: European Commission(XE) 101016787 - DEEPER
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: multimode optical fibre * image reconstruction * wavefront shaping * poisson noise
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 3.833, rok: 2021
Způsob publikování: Open access
https://www.osapublishing.org/oe/fulltext.cfm?uri=oe-29-23-38206&id=464465
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0324622 - 4.0543930 - ÚT 2022 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Stoklasová, Pavla - Grabec, Tomáš - Zoubková, K. - Sedlák, Petr - Krátký, Stanislav - Seiner, Hanuš
Laser-Ultrasonic Characterization of Strongly Anisotropic Materials by Transient Grating Spectroscopy.
Experimental Mechanics. Roč. 61, č. 4 (2021), s. 663-676. ISSN 0014-4851. E-ISSN 1741-2765
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA20-12624S; GA MŠMT EF16_013/0001794
Institucionální podpora: RVO:61388998 ; RVO:61389005 ; RVO:68081731
Klíčová slova: laser-ultrasonics * transient grating spectroscopy * elastic anisotropy * surface acoustic waves
Obor OECD: Acoustics; Materials engineering (UJF-V); Coating and films (UPT-D)
Impakt faktor: 2.794, rok: 2021
Způsob publikování: Omezený přístup
https://link.springer.com/article/10.1007/s11340-021-00698-6
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0321372 - 5.0543063 - ÚPT 2022 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Řiháček, Tomáš - Horák, M. - Schachinger, T. - Mika, Filip - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Fořt, Tomáš - Radlička, Tomáš - Johnson, C. W. - Novák, L. - Seďa, B. - McMorran, B.J. - Müllerová, Ilona
Beam shaping and probe characterization in the scanning electron microscope.
Ultramicroscopy. Roč. 225, June (2021), č. článku 113268. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Electron diffraction * SEM * Electron beam structuring * Spot shape measurement * Electron vortex beam
Obor OECD: Particles and field physics
Impakt faktor: 2.994, rok: 2021
Způsob publikování: Open access
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399121000589
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0320365 - 6.0535207 - ÚPT 2021 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Knápek, Alexandr - Horáček, Miroslav - Krátký, Stanislav - Matějka, Milan - Brunn, Ondřej - Burda, Daniel - Kolařík, Vladimír
Vlastnosti kvaziperiodických spirálových mikrostruktur.
[Properties of quasiperiodic spiral microstrictures.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 65, č. 6 (2020), s. 175-178. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA MV(CZ) VI20192022147
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: planar phyllotactit model * electron beam lithography * diffractive optically variable image device
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Způsob publikování: Omezený přístup
https://jmo.fzu.cz/sites/jmo.fzu.cz/files/oldweb/2020/2020-06/jmo_20_06_obsah.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0313290 - 7.0525191 - ÚPT 2021 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Řiháček, Tomáš - Knápek, Alexandr - Kolařík, Vladimír
Functional nano-structuring of thin silicon nitride membranes.
Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis. Roč. 71, č. 2 (2020), s. 127-130. ISSN 1335-3632. E-ISSN 1339-309X
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: membrane * nano optical device * electron optics * electron beam lithography * silicon nitride * reactive ion etching * silicon etching * microfabrication
Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
Impakt faktor: 0.647, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://content.sciendo.com/view/journals/jee/71/2/article-p127.xml
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0309382 - 8.0510248 - ÚPT 2020 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Abrams, K.J. - Dapor, M. - Stehling, N. - Azzolini, M. - Kyle, S.J. - Schäfer, J.S. - Quade, A. - Mika, Filip - Krátký, Stanislav - Pokorná, Zuzana - Konvalina, Ivo - Mehta, D. - Black, K. - Rodenburg, C.
Making Sense of Complex Carbon and Metal/Carbon Systems by Secondary Electron Hyperspectral Imaging.
Advanced Science. Roč. 6, č. 19 (2019), č. článku 1900719. E-ISSN 2198-3844
Grant CEP: GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: carbon orientations * carbon surface analysis * characterization * modeling * secondary electron emission * secondary electron hyperspectral imaging * secondary electron spectroscopy
Obor OECD: Coating and films
Impakt faktor: 15.840, rok: 2019
Způsob publikování: Open access
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1002/advs.201900719
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300765 - 9.0508751 - ÚPT 2020 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Konvalina, Ivo - Mika, Filip - Krátký, Stanislav - Materna-Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona
In-Lens Band-Pass Filter for Secondary Electrons in Ultrahigh Resolution SEM.
Materials. Roč. 12, č. 14 (2019), č. článku 2307. E-ISSN 1996-1944
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA TA ČR TE01020233; GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: band-pass filter of signal electrons * SE detection * trajectory simulations
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 3.057, rok: 2019
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/1996-1944/12/14/2307/htm
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0299576 - 10.0501458 - ÚPT 2020 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
Kolařík, Vladimír - Horáček, Miroslav - Knápek, Alexandr - Krátký, Stanislav - Matějka, Milan - Meluzín, Petr
Spiral arrangement: From nanostructures to packaging.
Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis. Roč. 70, č. 1 (2019), s. 74-77. ISSN 1335-3632. E-ISSN 1339-309X
Grant CEP: GA MPO FV10618; GA TA ČR TG03010046; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron beam lithography * phyllotaxis * spiral arrangement * parastichy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 0.686, rok: 2019
Způsob publikování: Open access
https://content.sciendo.com/view/journals/jee/70/1/article-p74.xml?lang=en
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0293484