Výsledky vyhledávání
- 1.0507183 - ÚPT 2020 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Kasl, J. - Mikmeková, Šárka - Jandová, D.
SEM, TEM and SLEEM (scanning low energy electron microscopy) of CB2 steel after creep testing.
EMAS 2013 workshop. 13th Europhean workshop on modern developments and applications in microbeam analysis. Bristol: IOP, 2014, č. článku 012008. IOP Conference Series-Materials Science and Engineering. ISSN 1757-8981.
[European Workshop of the European-Microbeam-Analysis-Society on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis (EMAS) /13./. Porto (PT), 12.05.2013-16.05.2013]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SEM * SLEEM
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
DOI: https://doi.org/10.1088/1757-899X/55/1/012008
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0298363 - 2.0507132 - ÚPT 2020 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Frank, Luděk - Nebesářová, Jana - Vancová, Marie - Paták, Aleš - Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona
Transmission of very slow electrons as a diagnostic tool.
NANOCON 2013 - 5th International Conference Proceedings. Ostrava: TANGER Ltd, 2014, s. 503-508. ISBN 978-80-87294-47-5.
[International Conference NANOCON 2013 /5./. Brno (CZ), 16.10.2013-18.10.2013]
Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Klíčová slova: electron microscopy * slow electrons * STEM * graphene * ultrathin tissue sections
Obor OECD: Nano-materials (production and properties); Civil engineering (BC-A)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0298349 - 3.0495555 - ÚMCH 2019 CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Šlouf, Miroslav - Krejčíková, Sabina - Hromádková, Jiřina - Vlková, Helena
Micromechanical properties of UHMWPE´s with different molecular weights.
Key Engineering Materials. Vol. 784. Zurich: Trans Tech Publications Inc., 2018 - (Lofaj, F.; Zubko, P.), s. 33-37. ISBN 1662-9795.
[Conference on Local Mechanical Properties /13./. Košice (SK), 06.11.2017-08.11.2017]
Grant CEP: GA MZd(CZ) NV15-31269A; GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1507
Grant ostatní: AV ČR(CZ) PAN-17-18
Program: Bilaterální spolupráce
Institucionální podpora: RVO:61389013
Klíčová slova: vickers microhardness * microindentation hardness testing * semicrystalline polymers
Obor OECD: Polymer science
Web výsledku:
https://www.scientific.net/KEM.784.33DOI: https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.784.33
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0293672 - 4.0494380 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zouhar, Martin - Radlička, Tomáš - Oral, Martin - Konvalina, Ivo
Inelastic mean free path from raw data measured by low-energy electrons time-of-flight spectrometer.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 86-87. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * time of flight * inelastic mean free path * low energy
Obor OECD: Atomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287642 - 5.0494373 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Řiháček, Tomáš - Horák, M. - Schachinger, T. - Matějka, Milan - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
Creation of electron vortex beams using the holographic reconstruction method in a scanning electron microscope.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 66-67. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron vortex beams * scanning electron microscopy * electron diffraction
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287630 - 6.0494371 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Průcha, Lukáš - Daniel, Benjamin - Piňos, Jakub - Mikmeková, Eliška
Thermal desorption spectroscopy in prototype furnace for chemical vapor deposition.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 60-61. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: thermal desorption spectroscopy * CVD * surface cleaning * silicon
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287627 - 7.0494366 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lalinský, Ondřej - Schauer, Petr - Rathaiah, M. - Kučera, M.
Stable Ce4+ centres - a tool to optimize cathodoluminescence performance in garnet scintillators.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 44-45. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA ČR(CZ) GA16-05631S; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: garnet scintillators * cathodoluminescence performance
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287602 - 8.0494365 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Mikmeková, Eliška - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
STEM modes in SEM.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 40-41. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SEM * STEM
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287599 - 9.0494363 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Saqib, M. - Knápek, Alexandr - Jelenc, J. - Pirker, L.
Field emission from W5O14 nanowires.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 34-35. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: field emission * W5O14 nanowires
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287594 - 10.0482168 - ÚPT 2018 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Knápek, Alexandr - Horáček, Miroslav - Hrubý, František - Šikula, J. - Kuparowitz, T. - Sobola, D.
Noise behaviour of field emission cathode based on lead pencil graphite.
30th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). Piscataway: IEEE, 2017, s. 274-275. ISBN 978-1-5090-3975-3. E-ISSN 2380-6311.
[International Vacuum Nanoelectronics Conference /30./ (IVNC). Regensburg (DE), 10.07.2017-14.07.2017]
Grant CEP: GA MŠMT ED0017/01/01; GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: field emission * lead pencil graphite * noise spectroscopy
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Web výsledku:
http://ieeexplore.ieee.org/document/8051642/DOI: https://doi.org/10.1109/IVNC.2017.8051642
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0277564