Výsledky vyhledávání
- 1.0456499 - FZÚ 2016 RIV NL eng M - Část monografie knihy
Jungwirth, Tomáš
III–V based magnetic semiconductors.
Handbook of Spintronics. Dordrecht: Springer International Publishing, 2015 - (Xu, Y.; Awschalom, D.; Nitta, J.), s. 465-521. ISBN 978-94-007-6891-8
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2011026; GA ČR GB14-37427G
GRANT EU: European Commission(XE) 268066 - 0MSPIN
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: magnetic semiconductors * spintronics
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0257014 - 2.0424738 - FZÚ 2014 RIV JP eng M - Část monografie knihy
Fejfar, Antonín
Nano-level characterization of silicon thin films and solar cells.
Solar Cell Technology Handbook. Tokyo: Ohmsha, 2013 - (Konagai, M.), s. 468-478. ISBN 978-4-274-21399-1
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2011026
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100101217
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: silicon * thin films * atomic force microscopy * photoresponse
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0230767 - 3.0423743 - FZÚ 2014 RIV GB eng M - Část monografie knihy
Klapetek, P. - Fejfar, Antonín - Rezek, Bohuslav
Local current measurements.
Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy. Oxford: Elsevier, 2013 - (Klapetek, P.), s. 221-245. Micro and Nano Technologies. ISBN 978-1-4557-3058-2
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2011026
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: STM * AFM * local electronic properties * nanostructures
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
http://www.sciencedirect.com/science/book/9781455730582
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0229821