Výsledky vyhledávání
- 1.0567910 - FZÚ 2023 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Domonkos, M. - Kromka, Alexander
Nanosphere lithography-based fabrication of spherical nanostructures and verification of their hexagonal symmetries by image analysis.
Symmetry-Basel. Roč. 14, č. 12 (2022), č. článku 2642. E-ISSN 2073-8994
Grant CEP: GA MŠMT LM2018110
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: nanosphere lithography * self-assembly * hexagonal symmetry * plasma etching * image analysis * defect detection
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Impakt faktor: 2.7, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0339173Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0567910.pdf 1 4.3 MB CC licence Vydavatelský postprint povolen - 2.0556001 - FZÚ 2023 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Domonkos, M. - Jackivová, Rajisa - Pathó, A.
Image analysis algorithm for the verification of hexagonal symmetry in spherical nanostructures.
Microelectronic Engineering. Roč. 251, Jan (2022), č. článku 111635. ISSN 0167-9317. E-ISSN 1873-5568
Výzkumná infrastruktura: CzechNanoLab - 90110
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: image analysis * nanosphere lithography * defect detection * hexagonal ordering * scanning electron microscopy * Python
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 2.3, rok: 2022
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1016/j.mee.2021.111635
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0330401