Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0556001 - FZÚ 2023 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Domonkos, M. - Jackivová, Rajisa - Pathó, A.
    Image analysis algorithm for the verification of hexagonal symmetry in spherical nanostructures.
    Microelectronic Engineering. Roč. 251, Jan (2022), č. článku 111635. ISSN 0167-9317. E-ISSN 1873-5568
    Výzkumná infrastruktura: CzechNanoLab - 90110
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: image analysis * nanosphere lithography * defect detection * hexagonal ordering * scanning electron microscopy * Python
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Impakt faktor: 2.662, rok: 2021
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://doi.org/10.1016/j.mee.2021.111635
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0330401