Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0432079 - FZÚ 2015 CZ eng D - Dizertace
    Hývl, Matěj
    Study of silicon nanostructures by microscopic methods.
    České vysoké učení technické v Praze, Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská. - Praha: ČVUT, 2014. 72 s.
    Grant CEP: GA MPO FR-TI2/736; GA ČR GA13-12386S; GA MŠk(CZ) LM2011026; GA ČR GB14-37427G
    Grant ostatní:AVČR(CZ) M100101216
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: silicon nanostructures * AFM * Raman intensity mapping * nanoindentation * radial junctions * Si NWs * LPC polycrystalline silicon thin films
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0236555