Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0507132 - ÚPT 2020 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Frank, Luděk - Nebesářová, Jana - Vancová, Marie - Paták, Aleš - Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona
    Transmission of very slow electrons as a diagnostic tool.
    NANOCON 2013 - 5th International Conference Proceedings. Ostrava: TANGER Ltd, 2014, s. 503-508. ISBN 978-80-87294-47-5.
    [International Conference NANOCON 2013 /5./. Brno (CZ), 16.10.2013-18.10.2013]
    Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA TA ČR(CZ) TE01020118
    Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
    Klíčová slova: electron microscopy * slow electrons * STEM * graphene * ultrathin tissue sections
    Obor OECD: Nano-materials (production and properties); Civil engineering (BC-A)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0298349
     
     
  2. 2.
    0423860 - ÚPT 2014 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Knápek, Alexandr - Pokorná, Zuzana
    Algorithm for Analysis of a Data Cube of Electron Micrographs.
    Microscopy conference (MC) 2013. Proceedings. Vol. 2. Regensburg: University of Regensburg, 2013, s. 325-326.
    [Microscopy Conference 2013. Regensburg (DE), 25.08.2013-30. 08.2013]
    Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA ČR GAP108/11/2270
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: SLEEM * crystallographic orientation * grain boundary recognition
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0229921
     
     
  3. 3.
    0423857 - ÚPT 2014 GR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Knápek, Alexandr - Pokorná, Zuzana
    Automatic Grain Boundary Detection of Polycrystalline Materials from Multiple SLEEM Images.
    IMA 2013. 8th International Conference on Instrumental Methods of Analysis: Modern Trends and Applications. Book of Abstracts. Thessaloniki: Laboratory of Analytical Chemistry, Department of Chemical Engineering, AUTh, 2013, s. 177.
    [IMA 2013. International Conference on Instrumental Methods of Analysis: Modern Trends and Applications /8./. Thessaloniki (GR), 15.09.2013-19.09.2013]
    Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA ČR GAP108/11/2270
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: detection of polycrystalline materials * SLEEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0229908
     
     
  4. 4.
    0387264 - ÚPT 2013 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Frank, Luděk - Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Pokorná, Zuzana - Müllerová, Ilona
    Overview of SEM developments and potential.
    EMC 2012. Proceedings of the 15th European Microscopy Congress. vol. 2. Manchester: The Royal Microscopical Society, 2012, s. 121-122. ISBN 978-0-9502463-6-9.
    [EMC 2012. European Microscopy Congress /15./. Manchester (US), 16.09.2012-21.09.2012]
    Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: low energy SEM * multichannel SEM * STEM in SEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0216387
     
     
  5. 5.
    0386388 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Frank, Luděk - Mikmeková, Šárka - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
    Surface crystallinity at the sight of electrons.
    Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 - (Mika, F.), s. 17-20. ISBN 978-80-87441-07-7.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./. Skalský dvůr (CZ), 25.06.2012-29.06.2012]
    Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning electron microscopy * backstattered electrons * crystal structure
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215688
     
     
  6. 6.
    0379918 - ÚPT 2013 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Pokorná, Zuzana - Mikmeková, Šárka - Matsuda, K. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    Backscattered electrons in examination of materials.
    Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 940:1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
    [Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
    Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning electron microscope * backscattered electrons * cathode lens
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210769
     
     
  7. 7.
    0368827 - ÚPT 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Pokorná, Zuzana - Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk
    Scanning Very Low Energy Electron Microscopy.
    NANOCON 2011. 3rd International Conference. Ostrava: Tanger spol. s r. o, 2011, s. 238-243. ISBN 978-80-87294-27-7.
    [NANOCON 2011. International Conference /3./. Brno (CZ), 21.09.2011-23.09.2011]
    Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA AV ČR IAA100650902
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: scanning electron microscopy * low energy electrons * grain contrast * transmitted electrons * dopant contrast * thin films
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0203060
     
     
  8. 8.
    0367280 - ÚPT 2012 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Mikulík, P.
    Mapping of dopants in silicon by injection of electrons.
    MC 2011 - Microscopy Conference Kiel. Kiel: DGE, 2011, IM7.P198:1-2. ISBN 978-3-00-033910-3.
    [MC 2011 - Microscopy Conference. Kiel (DE), 28.08.2011-02.09.2011]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902; GA ČR GAP108/11/2270
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: dopant * silicon * scanning electron microscopy
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202020
     
     
  9. 9.
    0367235 - ÚPT 2012 IT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Frank, Luděk - Pokorná, Zuzana - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona
    Backscattered electrons in the SEM imaging.
    Proceedings of the 10th Multinational Congress on Microscopy 2011. Urbino: SISM, 2011, s. 65-66.
    [Multinational Congress on Microscopy 2011 /10./ - MCM 2011. Urbino (IT), 04.09.2011-09.09.2011]
    Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: SEM * BSE * low energy * grain contrast
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0201981
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.