Výsledky vyhledávání
- 1.0482751 - ÚPT 2018 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Horáček, Miroslav - Meluzín, Petr - Krátký, Stanislav - Knápek, Alexandr - Mika, Filip - Chlumská, Jana - Matějka, František - Král, Stanislav - Brunn, Ondřej - Giričová, D. - Kopal, Jaroslav - Kolařík, Vladimír
Deterministicky aperiodické obrazové zařízení.
[Deterministic Aperiodic Image Device.]
Sborník příspěvků multioborové konference LASER57. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2017 - (Růžička, B.), s. 34-35. ISBN 978-80-87441-21-3.
[LASER57. Třešť (CZ), 08.11.2017-10.11.2017]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01; GA TA ČR TE01020233; GA TA ČR(CZ) TG03010046; GA MPO(CZ) FV10618
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: e–beam lithography * diffractive optically variable image device
Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0278201 - 2.0464389 - ÚPT 2018 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krátký, Stanislav - Meluzín, Petr - Horáček, Miroslav - Kolařík, Vladimír - Matějka, Milan - Chlumská, Jana - Král, Stanislav
Blaze Gratings with a Ribbed Back Slope.
NANOCON 2016. 8th International Conference on Nanomaterials - Research and Application. Conference Proceedings. Ostrava: Tanger, 2017, s. 757-761. ISBN 978-80-87294-71-0.
[NANOCON 2016. International Conference on Nanomaterials - Research and Application /8./. Brno (CZ), 19.10.2016-21.10.2016]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: nano patterning * blazed diffraction grating * Gaussian-type beam * variable-shaped beam * electron beam writer
Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0270770 - 3.0464388 - ÚPT 2018 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Matějka, Milan - Kolařík, Vladimír - Horáček, Miroslav - Král, Stanislav
Parameter Optimization of Multi-Level Diffraction Gratings.
NANOCON 2016. 8th International Conference on Nanomaterials - Research and Application. Conference Proceedings. Ostrava: Tanger, 2017, s. 751-756. ISBN 978-80-87294-71-0.
[NANOCON 2016. International Conference on Nanomaterials - Research and Application /8./. Brno (CZ), 19.10.2016-21.10.2016]
Grant CEP: GA MPO FR-TI1/576; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: e-beam pattern generator * variable shaped beam * grayscale lithography * multi-level grating
Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0270769 - 4.0464174 - ÚPT 2017 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Kolařík, Vladimír - Horáček, Miroslav - Krátký, Stanislav - Meluzín, Petr - Chlumská, Jana - Matějka, Milan - Král, Stanislav
Laser a fylotaxe.
[Laser and Phyllotaxy.]
Sborník příspěvků multioborové konference LASER56. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2016, s. 36-37. ISBN 978-80-87441-18-3.
[LASER56. Třešť (CZ), 19.10.2016-21.10.2016]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01; GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: e-beam lithography * photo masks * planar relief structures
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263202 - 5.0463775 - ÚPT 2017 AT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krátký, Stanislav - Kolařík, Vladimír - Horáček, Miroslav - Meluzín, Petr - Král, Stanislav
Combined e-beam lithography using different energies.
MNE. 42nd International Conference on Micro and Nano Engineering. Viena: Mondial, 2016.
[Interantional Conference on Micro and Nano Engineering /42./. Vienna (AT), 19.09.2016-23.09.2016]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: e-beam lithography * absorbed energy density * micro-optical elements
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0262858 - 6.0390983 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Kolařík, Vladimír - Horáček, Miroslav - Matějka, František - Matějka, Milan - Urbánek, Michal - Krátký, Stanislav - Král, Stanislav - Bok, Jan
E-beam pattern generator BS600 and technology zoom.
NANOCON 2012, 4th International Conference Proceedings. Ostrava: TANGER Ltd, 2012, s. 822-825. ISBN 978-80-87294-32-1.
[NANOCON 2012. International Conference /4./. Brno (CZ), 23.10.2012-25.10.2012]
Grant CEP: GA MŠMT ED0017/01/01; GA MPO FR-TI1/576
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: E-beam pattern generator * E-beam lithography * reduced size shaped beam
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0219948 - 7.0390976 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Kolařík, Vladimír - Matějka, Milan - Matějka, František - Krátký, Stanislav - Urbánek, Michal - Horáček, Miroslav - Král, Stanislav - Bok, Jan
Calibration specimens for microscopy.
NANOCON 2012, 4th International Conference Proceedings. Ostrava: TANGER Ltd, 2012, s. 713-716. ISBN 978-80-87294-32-1.
[NANOCON 2012. International Conference /4./. Brno (CZ), 23.10.2012-25.10.2012]
Grant CEP: GA MŠMT ED0017/01/01; GA TA ČR TE01020233; GA MPO FR-TI1/576
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: E-beam technology * calibration specimen * scanning electron microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0219838 - 8.0390975 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Bok, Jan - Horáček, Miroslav - Král, Stanislav - Kolařík, Vladimír - Matějka, František
Analysis of electron current instability in E-beam writer.
NANOCON 2012, 4th International Conference Proceedings. Ostrava: TANGER Ltd, 2012, s. 295-299. ISBN 978-80-87294-32-1.
[NANOCON 2012. International Conference /4./. Brno (CZ), 23.10.2012-25.10.2012]
Grant CEP: GA MŠMT ED0017/01/01; GA TA ČR TE01020118; GA MPO FR-TI1/576
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron beam * current measurement * current drift and noise * fourier analysis
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0219831 - 9.0386400 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Kolařík, Vladimír - Matějka, Milan - Urbánek, Michal - Král, Stanislav - Krátký, Stanislav - Mikšík, P. - Vašina, J.
Proximity effect simulation for variable shape e-beam writer.
Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 - (Mika, F.), s. 75-76. ISBN 978-80-87441-07-7.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./. Skalský dvůr (CZ), 25.06.2012-29.06.2012]
Grant CEP: GA MŠMT ED0017/01/01; GA MPO FR-TI1/576
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron scattering effects * e-beam writer * computer simulation
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215699 - 10.0386391 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Kolařík, Vladimír - Matějka, František - Matějka, Milan - Horáček, Miroslav - Urbánek, Michal - Bok, Jan - Krátký, Stanislav - Král, Stanislav - Mika, Filip
What is the buzz about the TZ mode.
Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 - (Mika, F.), s. 37-38. ISBN 978-80-87441-07-7.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./. Skalský dvůr (CZ), 25.06.2012-29.06.2012]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2325; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: e-beam lithography * variable shaped electron beam
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215691