Výsledky vyhledávání
- 1.0540442 - ÚFP 2021 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Vozda, V. - Burian, Tomáš - Hájková, V. - Juha, Libor - Enkisch, H. - Faatz, B. - Hermann, M. - Jacyna, I. - Jurek, M. - Keitel, B. - Klinger, D. - Loch, R. - Louis, E. - Makhotkin, I.A. - Plönjes, E. - Saksl, K. - Siewert, F. - Sobierajski, R. - Strobel, S. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Vries de, M. S. - Zelinger, Z. - Chalupský, J.
Characterization of megahertz X-ray laser beams by multishot desorption imprints in PMMA.
Optics Express. Roč. 28, č. 18 (2020), s. 25664-25681. ISSN 1094-4087
Grant CEP: GA MŠMT EF16_013/0001552
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: X-ray * laser beams * PMMA
Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
Impakt faktor: 3.894, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://www.osapublishing.org/oe/fulltext.cfm?uri=oe-28-18-25664&id=434470
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0318045 - 2.0540378 - FZÚ 2021 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Vozda, Vojtěch - Burian, Tomáš - Hájková, Věra - Juha, Libor - Enkisch, H. - Faatz, B. - Hermann, M. - Jacyna, I. - Jurek, M. - Keitel, B. - Klinger, D. - Loch, R. - Louis, E. - Makhotkin, I.A. - Ploenjes, E. - Saksl, K. - Siewert, F. - Sobierajski, R. - Strobel, S. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - de Vries, G. - Zelinger, Zdeněk - Chalupský, Jaromír
Characterization of megahertz X-ray laser beams by multishot desorption imprints in PMMA.
Optics Express. Roč. 28, č. 18 (2020), s. 25664-25681. ISSN 1094-4087
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA17-05167s
GRANT EU: European Commission(XE) 654148 - LASERLAB-EUROPE
Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61388955
Klíčová slova: multishot desorption imprints * free-electron laser (FEL) X-ray laser * poly(methyl methacrylate) (PMMA)
Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics); Physical chemistry (UFCH-W)
Impakt faktor: 3.894, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0318008Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0540378.pdf 1 1.9 MB OA vydavatele Vydavatelský postprint povolen - 3.0540252 - ÚFP 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Milov, I. - Zhakhovsky, V. - Ilnitsky, D. - Migdal, K. - Khokhlov, V. - Petrov, Y. - Inogamov, N. - Lipp, V. - Medvedev, Nikita - Ziaja, B. - Medvedev, V. - Makhotkin, I.A. - Louis, E. - Bijkerk, F.
Two-level ablation and damage morphology of Ru films under femtosecond extreme UV irradiation.
Applied Surface Science. Roč. 528, October (2020), s. 1-18, č. článku 146952. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA MŠMT LTT17015; GA MŠMT(CZ) LM2015083
GRANT EU: European Commission(XE) 654148 - LASERLAB-EUROPE
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: Extreme ultraviolet * Femtosecond laser ablation * Free-electron laser * Molecular dynamics * Monte Carlo * Thin films
Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
Impakt faktor: 6.707, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433220317098?via%3Dihub
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0317887 - 4.0532844 - FZÚ 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Milov, I. - Zhakhovsky, V. - Ilnitsky, D. - Migdal, K. - Khokhlov, V. - Petrov, Y. - Inogamov, N. - Lipp, V. - Medvedev, Nikita - Ziaja, B. - Medvedev, V. - Makhotkin, I.A. - Louis, E. - Bijkerk, F.
Two-level ablation and damage morphology of Ru films under femtosecond extreme UV irradiation.
Applied Surface Science. Roč. 528, Oct (2020), s. 1-18, č. článku 146952. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
GRANT EU: European Commission(XE) 654148 - LASERLAB-EUROPE
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: femtosecond laser ablation * free-electron laser * extreme ultraviolet * molecular dynamics * Monte Carlo * thin films
Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
Impakt faktor: 6.707, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.146952
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0311232Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 532844.pdf 1 7.3 MB Licence CC Vydavatelský postprint povolen - 5.0525177 - FZÚ 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Milov, I. - Lipp, V. - Ilnitsky, D. - Medvedev, Nikita - Migdal, K. - Zhakhovsky, V. - Khokhlov, V. - Petrov, Y. - Inogamov, N. - Semin, S. - Kimel, A. - Ziaja, B. - Makhotkin, I.A. - Louis, E. - Bijkerk, F.
Similarity in ruthenium damage induced by photons with different energies: From visible light to hard X-rays.
Applied Surface Science. Roč. 501, Jan (2020), s. 1-13, č. článku 143973. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA MŠMT LTT17015; GA MŠMT(CZ) LM2015083
GRANT EU: European Commission(XE) 654148 - LASERLAB-EUROPE
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: femtosecond laser ablation * X-ray free electron lasers * Monte Carlo simulations * two-temperature hydrodynamics * thin films * extreme ultraviolet
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 6.707, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0309374Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0525177.pdf 0 2.3 MB CC licence Vydavatelský postprint povolen - 6.0517622 - ÚFP 2020 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Milov, I. - Lipp, V. - Ilnitsky, D. - Medvedev, Nikita - Migdałek, G. - Zhakhovsky, V. - Khokhlov, V. - Petrov, Y. - Inogamov, N. - Semin, S. - Kimel, A.V. - Ziaja, B. - Makhotkin, I.A. - Louis, E. - Bijkerk, F.
Similarity in ruthenium damage induced by photons with different energies: From visible light to hard X-rays.
Applied Surface Science. Roč. 501, January (2020), č. článku 143973. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2015083; GA MŠMT LTT17015
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: Extreme ultraviolet * Femtosecond laser ablation * Monte Carlo simulations * Thin films * Two-temperature hydrodynamics * X-ray free electron lasers
Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
Impakt faktor: 6.707, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433219327898?via%3Dihub
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302930 - 7.0503529 - ÚFP 2019 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Makhotkin, I.A. - Milov, I. - Chalupský, J. - Tiedtke, K. - Enkisch, H. - de Vries, G. - Scholze, F. - Siewert, F. - Sturm, J.M. - Nikolaev, K. V. - van de Kruijs, R.W.E. - Smithers, M.A. - van Wolferen, H.A.G.M. - Keim, E.G. - Louis, E. - Jacyna, I. - Jurek, M. - Klinger, D. - Pełka, J.B. - Juha, Libor - Hájková, V. - Vozda, V. - Burian, Tomáš - Saksl, K. - Faatz, B. - Keitel, B. - Plönjes, E. - Schreiber, S. - Toleikis, S. - Loch, R. - Hermann, M. - Strobel, S. - Donker, R. - Mey, T. - Sobierajski, R.
Damage accumulation in thin ruthenium films induced by repetitive exposure to femtosecond XUV pulses below the single-shot ablation threshold.
Journal of the Optical Society of America. B. Roč. 35, č. 11 (2018), s. 2799-2805. ISSN 0740-3224. E-ISSN 1520-8540
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2015083; GA MŠMT LTT17015; GA MŠMT EF16_013/0001552; GA ČR GPP205/11/P712
GRANT EU: European Commission(XE) 654148 - LASERLAB-EUROPE
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: interaction of femtosecond XUV pulses * single-shot ablation threshold * damage accumulation in thin ruthenium films
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 2.284, rok: 2018
https://www.nature.com/articles/s41598-018-36176-8
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0295348 - 8.0500189 - ÚFP 2019 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Milov, I. - Lipp, V. - Medvedev, Nikita - Makhotkin, I.A. - Louis, E. - Bijkerk, F.
Modeling of XUV-induced damage in Ru films: the role of model parameters.
Journal of the Optical Society of America. B. Roč. 35, č. 10 (2018), B43-B53. ISSN 0740-3224. E-ISSN 1520-8540
Grant CEP: GA MŠMT LTT17015; GA MŠMT(CZ) LM2015083
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: faser damage * free-electron lasers * X-rays * soft x-rays * extreme ultraviolet (EUV) * metals * thin film
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 2.284, rok: 2018
http://bib-pubdb1.desy.de/record/410525/files/josab-35-10-B43.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0292306 - 9.0500161 - ÚFP 2019 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Milov, I. - Makhotkin, I.A. - Sobierajski, R. - Medvedev, Nikita - Lipp, V. - Chalupský, J. - Sturm, J.M. - Tiedtke, K. - de Vries, G. - Stoermer, M. - Siewert, F. - van de Kruijs, R. - Louis, E. - Jacyna, I. - Jurek, M. - Juha, L. - Hájková, V. - Vozda, V. - Burian, T. - Saksl, K. - Faatz, B. - Keitel, B. - Ploenjes, E. - Schreiber, S. - Toleikis, S. - Loch, R. - Hermann, M. - Strobel, S. - Nienhuys, H.-K. - Gwalt, G. - Mey, T. - Enkisch, H. - Bijkerk, F.
Mechanism of single-shot damage of Ru thin films irradiated by femtosecond extreme UV free-electron laser.
Optics Express. Roč. 26, č. 15 (2018), s. 19665-19685. ISSN 1094-4087
Grant CEP: GA MŠMT EF16_013/0001552
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: molecular-dynamics * threshold measurements * multilayer optics * lattice-dynamics * metal targets * pulse * ablation * spallation * radiation * surface
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 3.561, rok: 2018
https://www.osapublishing.org/oe/abstract.cfm?uri=oe-26-15-19665
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0292293 - 10.0497873 - FZÚ 2019 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Makhotkin, I.A. - Milov, I. - Chalupský, Jaromír - Tiedtke, K. - Enkisch, H. - de Vries, G. - Scholze, F. - Siewert, F. - Sturm, J.M. - Nikolaev, K. - van de Kruijs, R.W.E. - Smithers, M.A. - van Wolferen, H.A.G.M. - Keim, E.G. - Louis, E. - Jacyna, I. - Jurek, M. - Klinger, D. - Pelka, J. B. - Juha, Libor - Hájková, Věra - Vozda, Vojtěch - Burian, Tomáš - Saksl, Karel - Faatz, B. - Keitel, B. - Ploenjes, E. - Schreiber, S. - Toleikis, S. - Loch, R. - Hermann, M. - Strobel, S. - Donker, R. - Mey, T. - Sobierajski, R.
Damage accumulation in thin ruthenium films induced by repetitive exposure to femtosecond XUV pulses below the single-shot ablation threshold.
Journal of the Optical Society of America. B. Roč. 35, č. 11 (2018), s. 2799-2805. ISSN 0740-3224. E-ISSN 1520-8540
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA17-05167s; GA MŠMT LG15013; GA ČR(CZ) GA14-29772S
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: interaction of femtosecond XUV pulses * single-shot ablation threshold * damage accumulation in thin ruthenium films
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 2.284, rok: 2018
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0290344