Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0368827 - ÚPT 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Pokorná, Zuzana - Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk
    Scanning Very Low Energy Electron Microscopy.
    NANOCON 2011. 3rd International Conference. Ostrava: Tanger spol. s r. o, 2011, s. 238-243. ISBN 978-80-87294-27-7.
    [NANOCON 2011. International Conference /3./. Brno (CZ), 21.09.2011-23.09.2011]
    Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA AV ČR IAA100650902
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: scanning electron microscopy * low energy electrons * grain contrast * transmitted electrons * dopant contrast * thin films
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0203060
     
     
  2. 2.
    0367893 - ÚPT 2012 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Mikmeková, Šárka - Man, O. - Pantělejev, L. - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Kouřil, M.
    Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy.
    Materials Structure and Micromechanics of Fracture VI (Key Engineering Materials Vol. 465). Zurich: Trans Tech Publications, 2011 - (Šandera, P.), s. 338-341. ISBN 978-3-03785-006-0. ISSN 1662-9795.
    [MSMF-6: Materials Structure and Micromechanics of Fracture VI. Brno (CZ), 28.06.2010-30.06.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902; GA MŠk OE08012
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy (SLEEM) * contrast of crystal orientation * microscopic strain
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202409
     
     
  3. 3.
    0367280 - ÚPT 2012 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Mikulík, P.
    Mapping of dopants in silicon by injection of electrons.
    MC 2011 - Microscopy Conference Kiel. Kiel: DGE, 2011, IM7.P198:1-2. ISBN 978-3-00-033910-3.
    [MC 2011 - Microscopy Conference. Kiel (DE), 28.08.2011-02.09.2011]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902; GA ČR GAP108/11/2270
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: dopant * silicon * scanning electron microscopy
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202020
     
     
  4. 4.
    0367278 - ÚPT 2012 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona
    Electron optical properties of a focusing magnetic/immersion-magnetic lens combined with a cathode lens.
    MC 2011 - Microscopy Conference Kiel. Kiel: DGE, 2011, IM1.112:1-2. ISBN 978-3-00-033910-3.
    [MC 2011 - Microscopy Conference. Kiel (DE), 28.08.2011-02.09.2011]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902; GA MPO FR-TI1/305; GA MPO FR-TI1/118
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: cathode lens * aberration coefficients * spot size
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202018
     
     
  5. 5.
    0367236 - ÚPT 2012 IT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk
    Examination of ultrathin films with slow electrons.
    Proceedings of the 10th Multinational Congress on Microscopy 2011. Urbino: SISM, 2011, s. 59-60.
    [Multinational Congress on Microscopy 2011 /10./ - MCM 2011. Urbino (IT), 04.09.2011-09.09.2011]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: low energy electrons * scanning electron microscope * transmitted electrons * reflected electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0201982
     
     
  6. 6.
    0352509 - ÚPT 2011 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Frank, Luděk
    Examination of Very Thin Free-standing Films with Slow Electrons.
    Proceedings of 5th Japan-China-Norway Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology. Toyama: University of Toyama, 2010, s. 45-48. ISBN 978-4-9903248-2-7.
    [JCNCS2010 /5./ Japan-China-Norway Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology. Toyama (JP), 12.09.2010-15.09.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902; GA MŠk ED0017/01/01
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: very low energy STEM * penetration of very slow electrons * graphene
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192001
     
     
  7. 7.
    0352422 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Frank, Luděk
    Advances in Low Energy Scanning Electron Microscopy.
    Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, s. 256-257. ISBN 978-85-63273-06-2.
    [International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: electron microscopy * cathode lens * slow backscattered electrons * STEM * VLESTEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191930
     
     
  8. 8.
    0350667 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Frank, Luděk
    Transmission mode in scanning low enery electron microscope.
    Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 41-42. ISBN 978-80-254-6842-5.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: cathode lens * SEM * transmitted electron mode
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190607
     
     
  9. 9.
    0350660 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Fořt, Tomáš - Müllerová, Ilona
    Optical and scanning electron microscopies in examination of ultrathin foils.
    Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 23-24. ISBN 978-80-254-6842-5.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: very low energy scanning transmission electron microscopy * ultrathin foils * laser confocal microscope
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190600
     
     
  10. 10.
    0350659 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona
    Electron optical properties of the cathode lens combined with a focusing magnetic/immersion-magnetic lens.
    Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 21-22. ISBN 978-80-254-6842-5.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: cathode lens * PEEM * LEEM * SEM * EOD software
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190599