Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0399809 - ÚPT 2014 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Číp, Ondřej - Hrabina, Jan - Oulehla, Jindřich
    Interferometric system with tracking refractometry capability in the measuring axis.
    Measurement Science and Technology. Roč. 24, č. 6 (2013), 067001:1-6. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
    Grant CEP: GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GPP102/11/P820; GA TA ČR TE01020233; GA TA ČR TA02010711; GA MŠMT ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: refractometry * nanopositioning * interferometry * nanometrology
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 1.352, rok: 2013
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227030
     
     
  2. 2.
    0397701 - ÚPT 2014 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
    Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Číp, Ondřej
    Investigation of Short-term Amplitude and Frequency Fluctuations of Lasers for Interferometry.
    Measurement Science Review. Roč. 13, č. 2 (2013), s. 63-69. ISSN 1335-8871. E-ISSN 1335-8871
    Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA ČR GA102/09/1276; GA AV ČR KAN311610701; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT(CZ) LC06007; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: nanometrology * laser noise * AFM * spectroscopy * interferometry
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 1.162, rok: 2013
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0225338
     
     
  3. 3.
    0389837 - ÚPT 2014 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Číp, Ondřej
    Frequency Noise Properties of Lasers for Interferometry in Nanometrology.
    Sensors. Roč. 13, č. 2 (2013), s. 2206-2219. E-ISSN 1424-8220
    Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA ČR GA102/09/1276; GA AV ČR KAN311610701; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT(CZ) LC06007
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: nanometrology * laser noise * interferometry * nanopositioning * AFM
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 2.048, rok: 2013
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0218775
     
     
  4. 4.
    0385756 - ÚPT 2013 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Lazar, Josef - Hrabina, Jan - Šerý, Mojmír - Číp, Ondřej - Čížek, Martin
    Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy.
    [Laser system for measurement of the 3D position with nanometre resolution for microscopes.]
    Jemná mechanika a optika. Roč. 57, č. 10 (2012), s. 283-286. ISSN 0447-6441
    Grant CEP: GA ČR GA102/09/1276; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01; GA ČR GPP102/11/P820
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: coordinate position sensing * nanometrology * 3D position * atomic force microscopy * local probe techniques * electron microscopy
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215570
     
     
  5. 5.
    0385287 - ÚPT 2013 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Buchta, Zdeněk
    Refractive Index Compensation in Over-Determined Interferometric Systems.
    Sensors. Roč. 12, č. 10 (2012), s. 14084-14094. E-ISSN 1424-8220
    Grant CEP: GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GPP102/11/P820; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: refractometry * nanopositioning * interferometry * nanometrology
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 1.953, rok: 2012
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0214593
     
     
  6. 6.
    0385285 - ÚPT 2013 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Buchta, Zdeněk
    Displacement interferometry with stabilization of wavelength in air.
    Optics Express. Roč. 20, č. 25 (2012), s. 27830-27837. ISSN 1094-4087
    Grant CEP: GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GPP102/11/P820; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: interferometry * instrumentation * measurement, and metrology
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 3.546, rok: 2012
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0214591
     
     
  7. 7.
    0372559 - ÚPT 2012 RIV PL eng J - Článek v odborném periodiku
    Lazar, Josef - Hrabina, Jan - Šerý, Mojmír - Klapetek, P. - Číp, Ondřej
    Multiaxis interferometric displacement measurement for local probe microscopy.
    Central European Journal of Physics. Roč. 10, č. 1 (2012), s. 225-231. ISSN 1895-1082
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA ČR GA102/09/1276
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: interferometry * nanometrology * microscopy
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 0.905, rok: 2012
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0205851
     
     
  8. 8.
    0368388 - ÚPT 2012 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Buchta, Zdeněk
    Standing Wave Interferometer with Stabilization of Wavelength on Air.
    tm-Technisches Messen. Roč. 78, č. 11 (2011), s. 484-488. ISSN 0171-8096
    Grant CEP: GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GPP102/11/P820; GA AV ČR KAN311610701; GA MŠMT(CZ) LC06007
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: refractometry * nanopositioning * interferometry * nanometrology
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 0.387, rok: 2011
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202748
     
     
  9. 9.
    0368382 - ÚPT 2012 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Buchta, Zdeněk
    Suppression of Air Refractive Index Variations in High-Resolution Interferometry.
    Sensors. Roč. 11, č. 8 (2011), s. 7644-7655. E-ISSN 1424-8220
    Grant CEP: GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GPP102/11/P820; GA AV ČR KAN311610701; GA MŠMT(CZ) LC06007
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: refractometry * nanopositioning * interferometry * nanometrology
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 1.739, rok: 2011
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202743
     
     
  10. 10.
    0366031 - ÚPT 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Klapetek, P. - Číp, Ondřej
    Multidimensional interferometric tool for the local probe microscopy nanometrology.
    Measurement Science and Technology. Roč. 22, č. 9 (2011), 094030:1-8. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA ČR GA102/09/1276
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: atomic force microscopy (AFM) * nanometrology * nanopositioning interferometry * nanoscale
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 1.494, rok: 2011
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0201133
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.