Výsledky vyhledávání
- 1.0434638 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Heger, D. - Krausko, J. - Klán, P. - Runštuk, Jiří - Neděla, Vilém
Ice and its impurities from the perspectives of photochemistry and electron microscopy.
Workshop of Interesting Topics of SEM and ESEM. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v. v. i, 2014, s. 33-35. ISBN 978-80-87441-12-1.
[Workshop of Interesting Topics of SEM and ESEM. Mikulov (CZ), 26.08.2014-31.08.2014]
Grant CEP: GA MŠMT EE.2.3.20.0103; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: ESEM * chemical and spectroscopic tools * environmental and applied science
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0238643 - 2.0434112 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Runštuk, Jiří - Klán, P. - Heger, D.
The Study of Ice Impurities Using the Environmental Scanning Electron Microscopy at Higher Pressures and Temperatures.
18th International Microscopy Congres. Proceedings. Praha: Czechoslovak Microscopy Society, 2014. ISBN 978-80-260-6720-7.
[International Microscopy Congres /18./. Praha (CZ), 07.09.2014-12.09.2014]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-22777S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: uranyl-salt * BSE * ESEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0238248 - 3.0367160 - ÚPT 2012 IT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Hřib, J. - Runštuk, Jiří
Native conifer embryogenic tissues studied using the environmental scanning electron microscope.
Proceedings of the 10th Multinational Congress on Microscopy 2011. Urbino: SISM, 2011, s. 135-136.
[Multinational Congress on Microscopy 2011 /10./ - MCM 2011. Urbino (IT), 04.09.2011-09.09.2011]
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410; GA MŠMT ED0017/01/01
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: AQUASEM II * BSE-YAG detector * ionization detector, early somatic * , early somatic embryogenesis
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0201922 - 4.0352541 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jirák, J. - Runštuk, Jiří - Špinka, J.
Problems of "in situ" specimen observation in ESEM.
11th Advanced Batteries, Accumulators and Fuel Cells. Brno: Brno University of Technology, 2010, s. 85-86. ISBN 978-80-214-4148-4.
[Advanced Batteries, Accumulators and Fuel Cells /11./ - ABAF. Brno (CZ), 19.09.2010-22.09.2010]
Grant CEP: GA ČR GA102/09/0314
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: ESEM * agressive specimen * in-situ observation.
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192030 - 5.0335269 - ÚPT 2010 RIV AT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Runštuk, Jiří - Neděla, Vilém - Čudek, P. - Jirák, J.
In-situ observation of salt crystallization using environmental scanning electron microscopy.
MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Graz: Verlag der Technischen Universität, 2009, Vol. 1: 225-226. ISBN 978-3-85125-062-6.
[MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./. Graz (AT), 30.08.2009-04.09.2009]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: crystallization * in-situ study * environmental SEM * salt
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/97905.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179778 - 6.0315083 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Runštuk, Jiří
Study of highly-aggressive samples using the variable pressure SEM.
[Studium vysoce agresivních vzorků pomocí EREM.]
EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 589-590. ISBN 978-3-540-85154-7.
[EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: VP-SEM * battery mass * aggressive samples
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004854