Výsledky vyhledávání
- 1.0375383 - ÚPT 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Mika, Filip - Mikmeková, Eliška - Mikmeková, Šárka - Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology.
International Journal of Nanotechnology. Roč. 9, 8/9 (2012), s. 695-716. ISSN 1475-7435. E-ISSN 1741-8151
Grant CEP: GA MŠMT OE08012; GA MŠMT ED0017/01/01; GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * very low energy electrons * cathode lens * grain contrast * strain contrast * imaging of participates * dopant contrast * very low energy STEM * graphene
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.087, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0208054 - 2.0365942 - ÚPT 2012 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
Mikmeková, Šárka - Matsuda, K. - Watanabe, K. - Ikeno, S. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
FIB Induced Damage Examined with the Low Energy SEM.
Materials Transactions. Roč. 52, č. 3 (2011), s. 292-296. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * focused ion beam * beam induced damage * sputtering
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.699, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0201068 - 3.0358595 - ÚPT 2012 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk - Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona
Very low energy scanning electron microscopy.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Roč. 645, č. 1 (2011), s. 46-54. ISSN 0168-9002. E-ISSN 1872-9576
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * low energy electrons * cathode lens * very low energy STEM * grain contrast
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.207, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0196580 - 4.0340746 - ÚPT 2010 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Man, O. - Pantělejev, L. - Frank, Luděk
Grain Contrast Imaging in UHV SLEEM.
Materials Transactions. Roč. 51, č. 2 (2010), s. 292-296. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * electron backscatter diffraction (EBSD) * grain contrast * ultra-fine grained materials
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.779, rok: 2010
http://www.jim.or.jp/journal/e/51/02/292.html
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0183927 - 5.0333617 - ÚPT 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo
Collection of secondary electrons in scanning electron microscopes.
Journal of Microscopy. Roč. 236, č. 3 (2009), s. 203-210. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818
Grant CEP: GA MŠMT OE08012; GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: detection of electrons * magnetic lenses * secondary electrons * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.612, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178559