Výsledky vyhledávání
- 1.0367893 - ÚPT 2012 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Šárka - Man, O. - Pantělejev, L. - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Kouřil, M.
Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy.
Materials Structure and Micromechanics of Fracture VI (Key Engineering Materials Vol. 465). Zurich: Trans Tech Publications, 2011 - (Šandera, P.), s. 338-341. ISBN 978-3-03785-006-0. ISSN 1662-9795.
[MSMF-6: Materials Structure and Micromechanics of Fracture VI. Brno (CZ), 28.06.2010-30.06.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902; GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy (SLEEM) * contrast of crystal orientation * microscopic strain
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202409 - 2.0352416 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Low Energy Reflection and High Angle Reflection of Electrons in the SEM.
Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I3.7: 1-2. ISBN 978-85-63273-06-2.
[International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * crystallinic structure * slow backscattered electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191924 - 3.0350665 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Prospects of the scanning low energy electron microscopy in materials science.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 37-38. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * scanning electron microscopy * transmission electron microscopy * focused ion beam microscopy * cathode lens mode
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350665_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190605 - 4.0335294 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Man, O. - Pantělejev, L.
Study of the Microstructure of the UFG Copper in UHV SLEEM.
Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09). Brno: ISI AS CR, 2009 - (Pokorná, Z.; Mika, F.), s. 19. ISBN 978-80-254-4535-8.
[CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./. Brno (CZ), 10.08.2009-14.08.2009]
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: UHV SLEEM * EBSD * grain orientations
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179800 - 5.0335272 - ÚPT 2010 RIV AT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Man, O. - Pantělejev, L.
Microstructure of the ultra-fine grained Cu by UHV SLEEM.
MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Graz: Verlag der Technischen Universität, 2009, Vol. 3: 515-516. ISBN 978-3-85125-062-6.
[MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./. Graz (AT), 30.08.2009-04.09.2009]
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * EBSD * grain contrast in SEM * ultrafine grained materials
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/25482.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179781 - 6.0315458 - ÚPT 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Matsuda, K. - Frank, Luděk
Low Energy Electron Microscopy in Materials Science.
[Nízko energiová elektronová mikroskopie v materiálových vědách.]
Proceedings of the 11th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2008 - (Mika, F.), s. 85-86. ISBN 978-80-254-0905-3.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /11./. Skalský dvůr (CZ), 14.07.2008-18.07.2008]
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: collection efficiency * cathode lens mode * material contrast
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165656 - 7.0315088 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Role of the high-angle BSE in SEM imaging.
[Úloha BSE emitovaných pod velkým úhlem v zobrazení v REM.]
EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 585-586. ISBN 978-3-540-85154-7.
[EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
Grant CEP: GA MŠMT OE08012; GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: contrast formation * cathode lens * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004859 - 8.0315087 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš
Aberrations of the cathode lens combined with a focusing magnetic/immersion-magnetic lens.
[Aberace katodové čočky v kombinaci s fokusační magnetickou čočkou a imerzní magnetickou čočkou.]
EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 569-570. ISBN 978-3-540-85154-7.
[EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
Grant CEP: GA MŠMT OE08012; GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: cathode lens * aberrations * focusing lens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004858