Výsledky vyhledávání
- 1.0352423 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Matějka, František - Horáček, Miroslav - Kolařík, Vladimír - Král, Stanislav
Modification of the Schottky FE ZrO/W electron emitter.
Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I1.12: 1-2. ISBN 978-85-63273-06-2.
[International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650803; GA MPO FR-TI1/576; GA MŠMT ED0017/01/01
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: e-beam writing system * rectangular-shaped electron beam * point projection
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191931 - 2.0350672 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zobačová, Jitka - Mikmeková, Šárka - Polčák, J. - Frank, Luděk
Imaging of thermal treated thin films on silicon substrate in the scanning low energy electron microscope.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 69-70. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: thin films * SLEEM * Si substrate
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350672_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190612 - 3.0350658 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk
Mapping of dopants by electron injection.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 15-16. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA ČR GP102/09/P543; GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: silicon structures * secondary electron emission * very low energy range * mapping dopants
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350658_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190598 - 4.0350657 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Matějka, František - Horáček, Miroslav - Kolařík, Vladimír - Král, Stanislav
Modification of the Schottky Fe ZrO/W electron emitter.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 13-14. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650803; GA MPO FR-TI1/576; GA MŠMT ED0017/01/01
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Schottky electron emitter * e-beam writing system * point projection
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350657_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190597 - 5.0335293 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hovorka, Miloš - Mika, Filip - Frank, Luděk - Mikulík, P.
Profiling of N-Type Dopants in Silicon Based Structures.
Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09). Brno: ISI AS CR, 2009 - (Pokorná, Z.; Mika, F.), s. 14. ISBN 978-80-254-4535-8.
[CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./. Brno (CZ), 10.08.2009-14.08.2009]
Grant CEP: GA ČR GP102/09/P543; GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: n-type substrate * SEM * PEEM * doping levels
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179799 - 6.0335265 - ÚPT 2010 RIV AT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Horáček, Miroslav - Zobač, Martin - Vlček, Ivan
Electron beam induced current measurement on a specimen biased in a cathode lens.
MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Graz: Verlag der Technischen Universität, 2009, Vol. 1: 211-212. ISBN 978-3-85125-062-6.
[MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./. Graz (AT), 30.08.2009-04.09.2009]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: elektron beam induced current * SEM * very low energy electrons * cathode lens * specimen bias
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/77645.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179775 - 7.0335263 - ÚPT 2010 RIV AT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mika, Filip - Hovorka, Miloš - Frank, Luděk
Secondary electron contrast in doped semiconductor with presence of a surface ad-layer.
MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Graz: Verlag der Technischen Universität, 2009, Vol. 1: 199-200. ISBN 978-3-85125-062-6.
[MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./. Graz (AT), 30.08.2009-04.09.2009]
Grant CEP: GA ČR GP102/09/P543; GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: dopant contrast * secondary electrons * semiconductor
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/51426.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179773 - 8.0335261 - ÚPT 2010 RIV AT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hovorka, Miloš - Mika, Filip - Frank, Luděk
Profiling of N-type dopants in silicon structures.
MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Graz: Verlag der Technischen Universität, 2009, Vol. 1: 181-182. ISBN 978-3-85125-062-6.
[MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./. Graz (AT), 30.08.2009-04.09.2009]
Grant CEP: GA ČR GP102/09/P543; GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: silicon * dopants * PEEM * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/19923.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179772 - 9.0315452 - ÚPT 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Frank, Luděk
Scanning Low Energy Electron Microscopy of Doped Silicon at Units of EV.
[Zobrazení dopovaného křemíku na velmi nízkých energiích pomocí rastrovacího elektronového mikroskopu.]
Proceedings of the 11th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2008 - (Mika, F.), s. 49-50. ISBN 978-80-254-0905-3.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /11./. Skalský dvůr (CZ), 14.07.2008-18.07.2008]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SLEEM * dopant * silicon
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165651 - 10.0315450 - ÚPT 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Horáček, Miroslav - Vlček, Ivan - Zobač, Martin
Wien Filter Electron Optical Characteristics Determining Using Shadow Projection Method.
[Měření elektronově-optických vlastností Wienova filtru stínovou metodou.]
Proceedings of the 11th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2008 - (Mika, F.), s. 47-48. ISBN 978-80-254-0905-3.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /11./. Skalský dvůr (CZ), 14.07.2008-18.07.2008]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Wien filtr * two-grid shadow method * shadow method with grid and moving screen
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165649