Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0308436 - ÚPT 2008 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Wandrol, P. - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
    Detekce sekundárních elektronů v REM.
    [Detection of secondary electrons in SEM.]
    Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 32. ISBN N.
    [Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: detection systems * secondary electrons * SEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160920