Výsledky vyhledávání
- 1.0494380 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zouhar, Martin - Radlička, Tomáš - Oral, Martin - Konvalina, Ivo
Inelastic mean free path from raw data measured by low-energy electrons time-of-flight spectrometer.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 86-87. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * time of flight * inelastic mean free path * low energy
Obor OECD: Atomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287642 - 2.0494372 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Radlička, Tomáš - Kolařík, V. - Oral, Martin
Electron optical properties of a new low-energy scanning electron microscope with beam separator.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 64-65. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: low energy scanning electron microscopy * beam separation * aberrations
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287628 - 3.0494360 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Daniel, Benjamin - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Very low energy electron transmission spectromicroscopy.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 14-15. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: low energy scanning electron microscopy * electron microscopy * time of flight * electron energy lost spectroscopy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287590 - 4.0460210 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Radlička, Tomáš - Oral, Martin
Correction of misalignment aberrations of a hexapole corrector using the differential algebra method.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 50-53. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT(CZ) 7H13015
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * Schertzer theorem * TEM * STEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260342 - 5.0460207 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Rozbořil, Jakub - Oral, Martin - Radlička, Tomáš
Optimal X-ray detection for thin samples in low-energy STEM.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 44-45. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * EDS * STEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260339 - 6.0460199 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Daniel, Benjamin - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Very low energy STEM/TOF system.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 6-7. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: elecvtron microscopy * SLEEM * UHV SLEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260331 - 7.0431219 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Oral, Martin - Radlička, Tomáš
Computations in Charged Particle Optics.
Workshop of Interesting Topics of SEM and ESEM. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v. v. i, 2014, s. 23-24. ISBN 978-80-87441-12-1.
[Workshop of Interesting Topics of SEM and ESEM. Mikulov (CZ), 26.08.2014-31.08.2014]
Grant CEP: GA MŠMT EE.2.3.20.0103
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: charged Particle Optics * computations
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0235965 - 8.0431216 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Radlička, Tomáš - Mika, Filip - Krzyžánek, Vladislav - Neděla, Vilém - Sobota, Jaroslav - Zobač, Martin - Kolařík, Vladimír - Starčuk jr., Zenon - Srnka, Aleš - Jurák, Pavel - Zemánek, Pavel - Číp, Ondřej - Lazar, Josef - Mrňa, Libor
Main Activites of the Institute of Scientific Instruments.
Workshop of Interesting Topics of SEM and ESEM. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v. v. i, 2014, s. 7-8. ISBN 978-80-87441-12-1.
[Workshop of Interesting Topics of SEM and ESEM. Mikulov (CZ), 26.08.2014-31.08.2014]
Grant CEP: GA MŠMT EE.2.3.20.0103
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Institute of Scientific Instruments * electron microscopes * nuclear magnetic resonance equipment * coherent optics and related techniques
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0235960 - 9.0386398 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Radlička, Tomáš
Calculation of difraction aberration using differential algebra.
Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 - (Mika, F.), s. 59-62. ISBN 978-80-87441-07-7.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./. Skalský dvůr (CZ), 25.06.2012-29.06.2012]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Diffraction in electron optics * diferential algebra method
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215697 - 10.0350670 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Radlička, Tomáš
Properties of Bi LMIS with ion clusters.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 57-58. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant ostatní: EC 7FP(XE) NMP4-SE-2008-200613
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Zdroj financování: R - rámcový projekt EK
Klíčová slova: SIMS * liquid–metal ion sources (LMIS) * discrete coulomb interactions (DCI)
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350670_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190610