Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0541105 - ÚFP 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Fineschi, S. - Naletto, G. - Romoli, M. - Da Deppo, V. - Antonucci, E. - Moses, D. - Malvezzi, M.A. - Nicolini, G. - Spadaro, D. - Teriaca, L. - Andretta, V. - Capobianco, G. - Crescenzio, G. - Focardi, M. - Frassetto, F. - Landini, F. - Massone, G. - Melich, Radek - Nicolosi, P. - Pancrazzi, M. - Pelizzo, M.-G. - Poletto, L. - Schühle, U.H. - Uslenghi, M. - Vives, S. - Solanki, S.K. - Heinzel, Petr - Berlicki, A. - Cesare, S. - Morea, D. - Mottini, S. - Sandri, P. - Alvarez-Herrero, A. - Castronuovo, M.M.
    Optical design of the multi-wavelength imaging coronagraph Metis for the solar orbiter mission.
    Experimental Astronomy. Roč. 49, č. 3 (2020), s. 239-263. ISSN 0922-6435. E-ISSN 1572-9508
    Institucionální podpora: RVO:61389021 ; RVO:67985815
    Klíčová slova: Coronagraphy * Solar instrumentation * Ultraviolet imaging * Visible-light polarimetry
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Impakt faktor: 2.012, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    https://link.springer.com/content/pdf/10.1007/s10686-020-09662-z.pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0318690

               
     
     
  2. 2.
    0541071 - ÚFP 2022 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Touš, J. - Pařízek, J. - Blažek, K. - Šulc, Miroslav - Melich, Radek - Dušek, Martin - Vaněk, Tomáš
    Resolution limits of a single crystal scintillator based X-ray micro-radiography camera.
    Journal of Instrumentation. Roč. 15, č. 2 (2020), č. článku C02014. ISSN 1748-0221. E-ISSN 1748-0221
    Grant CEP: GA MŠk(CZ) EF16_026/0008390
    Institucionální podpora: RVO:61389021 ; RVO:68378271
    Klíčová slova: Scintillators, scintillation and light emission processes (solid, gas and liquid scintillators) * X-ray detectors * X-ray radiography and digital radiography (DR)
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics); Optics (including laser optics and quantum optics) (FZU-D)
    Impakt faktor: 1.415, rok: 2020
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/15/02/C02014
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0318651

               
     
     
  3. 3.
    0494415 - ÚFP 2022 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Veselý, Martin - Doleček, Roman - Melich, Radek - Václavík, Jan
    Vývoj uložení IR optiky do mechanických dílů.
    [The development of mounting IR optics in mechanical parts.]
    Jemná mechanika a optika. Roč. 63, č. 6 (2018), s. 182-184. ISSN 0447-6441
    Grant CEP: GA MŠk(CZ) LO1206; GA MV(CZ) VI20172020100
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: robust * hyperspectra * mounting * IR
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://jmo.fzu.cz/sites/jmo.fzu.cz/files/oldweb/2018/jmo_18_06_obsah.pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287977

               
     
     
  4. 4.
    0490575 - ÚFP 2019 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Polák, Jaroslav - Karabyn, Vasyl - Procháska, František - Matoušek, Ondřej - Tomka, David - Melich, Radek
    Limity a omezení subaperturních korekčních lešticích technologiích a problematika vyhodnocování středních prostorových frekvencí.
    [Limits and Limitations of Subapertural Correction Polishing Technologies and Medium Spatial Frequency Evaluation.]
    Jemná mechanika a optika. Roč. 63, č. 5 (2018), s. 152-155. ISSN 0447-6441
    Grant CEP: GA MŠk(CZ) LO1206
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: corrective polishing technology * medium spatial frequencie (MSF)
    Obor OECD: Audio engineering, reliability analysis
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0285702

               
     
     
  5. 5.
    0475364 - ÚFP 2018 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Procháska, František - Matoušek, Ondřej - Tomka, David - Melich, Radek
    Vývoj procesu tmelení pro výrobu zrcadel koronografu Metis.
    [Development of cementing process for Metis coronagraph mirrors production.]
    Jemná mechanika a optika. Roč. 62, č. 3 (2017), s. 95-97. ISSN 0447-6441
    Grant CEP: GA MŠk(CZ) LO1206
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: Optical element bonding * cementing process FEM simulation
    Obor OECD: Materials engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0272184

               
     
     
  6. 6.
    0475361 - ÚFP 2018 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Špína, Michal - Procháska, František - Melich, Radek
    Scratch and Dig analýza povrchových vad pro zrcadla Metis.
    [Scratch and Dig analysis of surface imperfections for Metis mirrors.]
    Jemná mechanika a optika. Roč. 62, č. 1 (2017), s. 11-13. ISSN 0447-6441
    Grant CEP: GA MŠk(CZ) LO1206
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: Surface imperfection * Scratch and dig analysis * optical surface evaluation
    Obor OECD: Audio engineering, reliability analysis
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0272182

               
     
     
  7. 7.
    0459914 - ÚFP 2017 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Koláček, Karel - Schmidt, Jiří - Štraus, Jaroslav - Frolov, Oleksandr - Prukner, Václav - Melich, Radek - Psota, Pavel
    Spontaneous and artificial direct nanostructuring of solid surface by extreme ultraviolet laser with nanosecond pulses.
    Laser and Particle Beams. Roč. 34, č. 1 (2016), s. 11-22. ISSN 0263-0346. E-ISSN 1469-803X
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: Extreme ultraviolet (XUV) interferometer * Aspheric interferometer mirrors * Multilayer reflection coating for 46.9 nm * Ar8+ laser application * XUV direct nanostructuring
    Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
    Impakt faktor: 1.420, rok: 2016
    http://dx.doi.org/10.1017/S0263034615000786
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260070

               
     
     
  8. 8.
    0450801 - ÚFP 2016 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Weinzettl, Vladimír - Shukla, G. - Ghosh, J. - Melich, Radek - Pánek, Radomír - Tomeš, Matěj - Imríšek, Martin - Naydenkova, Diana - Varju, Jozef - Pereira, T. - Gomes, R. - Abramovic, I. - Jaspers, R. - Písařík, M. - Odstrčil, T. - Van Oost, G.
    High-resolution spectroscopy diagnostics for measuring impurity ion temperature and velocity on the COMPASS tokamak.
    Fusion Engineering and Design. 96-97, October (2015), s. 1006-1011. ISSN 0920-3796. E-ISSN 1873-7196.
    [Symposium on Fusion Technology 2014(SOFT-28)/28./. San Sebastián, 29.09.2014-03.10.2014]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-35260S; GA ČR GAP205/11/2341; GA MŠk(CZ) LM2011021
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: Tokamak * Plasma spectroscopy * Plasma rotation * Ion temperature * CXRS
    Obor OECD: Nuclear related engineering
    Impakt faktor: 1.301, rok: 2015
    http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0920379615002355
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0251996

               
     
     
  9. 9.
    0443812 - ÚFP 2016 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Procháska, František - Michal ml., S. - Melich, Radek - Psota, Pavel
    Metodika měření tvaru asférických prvků jakožto součást optické výroby.
    [Aspheric surface shape measurement methodology like a part of optical manufacture.]
    Jemná mechanika a optika. Roč. 60, č. 2 (2015), s. 81-84. ISSN 0447-6441
    Grant CEP: GA MŠk(CZ) LO1206; GA TA ČR(CZ) TA03010843
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: Aspheric surface measurement
    Kód oboru RIV: JS - Řízení spolehlivosti a kvality, zkušebnictví
    http://jmo.fzu.cz/
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0246479

               
     
     
  10. 10.
    0443027 - ÚFP 2016 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Procháska, František - Špína, Michal - Matoušek, Ondřej - Melich, Radek
    Hodnocení povrchových vad optických ploch.
    [Optic surface defects evaluation.]
    Jemná mechanika a optika. Roč. 60, č. 2 (2015), s. 73-76. ISSN 0447-6441
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TA03010843; GA MŠk(CZ) LO1206
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: surface imperfection * scratch and dig analysis
    Kód oboru RIV: JS - Řízení spolehlivosti a kvality, zkušebnictví
    http://jmo.fzu.cz/
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0246162