Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0439425 - ÚJF 2015 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Lebeda, Ondřej - Seifert, Daniel - Havránek, Vladimír
    Mikrofluidní chemický čip.
    [microfluidic chemical chip.]
    Interní kód: TA02010797V002 ; 2014
    Technické parametry: Mikrofluidní systém umožňující přesné vysokotlaké směšování látek v malém objemu založený na bázi PMMA matrice.
    Ekonomické parametry: Snížení rizika kontaminace při manipulaci s otevřenými zářiči. Vyšší účinnost směšování a výtěžku oproti manuálnímu postupu.
    Grant CEP: GA TA ČR TA02010797
    Institucionální podpora: RVO:61389005
    Klíčová slova: mikrofluidic systems * Lab on chip * microfluidic chemical chip * PET radiopharmaceuticals * labelled compounds * antibodies * fragments of antibodies * humanizing of antibodies * Cu-61 * Cu-64 * ion litography * AMfS * CuSepU
    Kód oboru RIV: CH - Jaderná a kvantová chemie, fotochemie
    www.labonchip.info
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0242735
     
  2. 2.
    0399685 - ÚJF 2014 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Kučírek, Václav - Havránek, Vladimír - Semián, Vladimír
    Hradlo iontového svazku.
    [The gate of the ion beam.]
    Interní kód: TAND-F2 ; 2013
    Technické parametry: info - Václav Kučírek
    Ekonomické parametry: Důležitá funkcionalita pro usnadnění ovládání iontového svazku v případě měření citlivých vzorků, kdy může docházet k postupné destrukci vzorku pod iontovým svazkem, velmi důležité pro sofistikovanou aplikaci – iontové obrábění.
    Grant CEP: GA ČR GA106/09/0125; GA MŠk(XE) LM2011019
    Institucionální podpora: RVO:61389005
    Klíčová slova: source of pulses * rising edge * falling edge * deflection plate * ion line * TTL signal
    Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0226936
     
  3. 3.
    0370920 - ÚJF 2013 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Novotný, Jiří - Havránek, Vladimír - Voseček, Václav - Jan, J.
    Zařízení pro manipulaci se vzorky ve vakuu.
    [Sample manipulator in vacuum.]
    Interní kód: UJF-PIXE1 ; 2011
    Technické parametry: Funkční vzorek zařízení pro manipulaci se vzorky ve vakuu, krok tisícina milimetru
    Ekonomické parametry: Výsledek je využíván příjemcem Ústav jaderné fyziky AV ČR, v. v. i. (IČ 61389005), ekonomické parametry se neuvádějí
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10480505
    Klíčová slova: sample manipulator * high vacuum * ion beam analyses
    Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215949