Výsledky vyhledávání
- 1.0205712 - UPT-D 20030095 RIV US eng M - Část monografie knihy
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Scanning low energy electron microscopy.
Advances in imaging and electron physics Vol. 128. New York: Elesevier Science, 2003 - (Hawkes, P.), s. 309 - 443
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: scanning electron microscope * low energy SEM * low energy electron beams
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101325 - 2.0205564 - UPT-D 20020114 RIV CZ cze M - Část monografie knihy
Müllerová, Ilona
Mikroskopie pomalými elektrony.
[Microscopy by slow electrons.]
Medoty analýzy povrchů. Iontové, sondové a speciální metody. Praha: Academia, 2002 - (Frank, L.; Král, J.), s. 383 - 448. ISBN 80-200-0594-3
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: scanning electron microscope * imaging of surfaces * specimen chamber
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101177 - 3.0094363 - ÚPT 2008 RIV ES eng M - Část monografie knihy
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Very Low Energy Scanning Electron Microscopy.
[Rastrovací elektronová mikroskopie na velmi nízkých energiích.]
Modern Research and Educational Topics in Microscopy. Vol. 2. Badajoz: Formatex, 2007 - (Méndez-Vilas, A.; Diaz, J.), s. 795-804. Microscopy series, 3. ISBN 978-84-611-9420-9
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327; GA ČR GA202/04/0281
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: electron optics * scanning electron microscopy * low energy electrons * cathode lens mode * surfaces
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0154189