Výsledky vyhledávání

0536664 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Konvalina, Ivo - Materna-Mikmeková, Eliška - Sýkora, Jiří
Držák vzorku pro elektronově indukované čištění v REM.
[Specimen holder for the electron induced cleanning in SEM.]
Interní kód: APL-2020-11 ; 2020
Technické parametry: Funkční vzorek stolku preparátu pro rastrovací prozařovací mikroskopii s extrémně pomalými elektrony tvoří kapsle preparátu s vloženým preparátem, nosné rameno z nevodivého materiálu, držák ramene, upravený vozík stolku a přívod vysokého potenciálu. Výsledek byl realizován pro ověření elektronově optických vlastností rekonstruovaného stolku preparátu pro mikroskop Magellan 400L, v rámci programu Národního centra kompetence - projekt Centrum elektronové a fotonové optiky.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ilona Müllerová, DrSc., ilona@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * scanning electron microscopy * scanning transmission electron microscopy * extremely slow electrons * specimen stage
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314400

0499074 - ÚPT 2019 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Frank, Luděk - Klein, Pavel - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Sýkora, Jiří
Spektrometr energií velmi pomalých elektronů.
[Spectrometer of energies of very slow electrons.]
Interní kód: APL-2018-13 ; 2018
Technické parametry: Funkční vzorek byl vyroben s cílem ověřit vlastnosti návrhu a konstrukce spektrometru energií velmi pomalých elektronů na principu doby průletu. Spektrometr obsahuje ve směru průletu elektronů preparát, první elektrodu, transportní tubus, druhou elektrodu, driftovou trubici s elektromagnetickým stíněním a detektor. Preparátem je velmi tenká vrstva libovolného technického materiálu o tloušťce v jednotkách nanometrů, kterou je možné prosvítit velmi pomalými elektrony o energii 100 eV a méně. Dominantní volbou preparátů jsou dvourozměrné krystaly o tloušťce nanejvýš několika atomových vrstev, např. grafén.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: RNDr. Luděk Frank, DrSc., ludek@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR TG03010046; GA MŠk(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: time-of-flight spectrometer * energy distribution of electrons * slow electrons * two-dimensional crystals * graphene
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0291357

0379939 - ÚPT 2012 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Klein, Pavel - Sýkora, Jiří
Detektor pomalých prošlých elektronů pro ultravysokovakuovou aparaturu rastrovacího elektronového mikroskopu s velmi pomalými elektrony.
[Detector of transmitted very low energy electrons for the ultra high vacuum scanning low energy electron microscope.]
Interní kód: PP-13 ; 2012
Technické parametry: Realizovaný scintilační detektor velmi pomalých prošlých elektronů pro ultravysokovakuovou aparaturu na bázi monokrystalu YAG, zasouvatelný v rozsahu 100 mm a jemně polohovatelný ve všech třech osách, s fotonásobičem a předzesilovačem.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek laboratorního zařízení nutného pro další vývoj, který byl realizovaný při řešení grantu s předpokladem budoucího komerčního využití v zařízení, jehož je součástí.
Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scintillation detector * transmitted electrons * scanning low energy electron microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210785

0336638 - ÚPT 2010 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Klein, Pavel
Polovodičový detektor pomalých elektronů prošlých vzorkem.
[Semiconductor detector of slow electrons transmitted through the specimen.]
Interní kód: 5511-1 ; 2009
Technické parametry: Detektor velmi pomalých elektronů prošlých vzorkem se záběrem celé vyzařovací charakteristiky +-90 deg od normály povrchu, rozměr detektoru 5x5 mm, PIN struktura, 100% sběrová účinnost, zesílení až 3000x i při energii elektronů pod 1 eV.
Ekonomické parametry: Funkční vzor je možné zavést do každého rastrovacího mikroskopu se vzorkem na vysokém potenciálu a realizovat tak režim STEM s velmi nízkou energií.
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: very low energy STEM * cathode lens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180830

0047353 - ÚPT 2006 RIV CZ eng L - Prototyp, funkční vzorek
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Methodology of slow electron microscopy with cathode lens.
[Metodika mikroskopie pomalými elektrony s katodovou čočkou.]
Interní kód: SLEEM ; 2005
Technické parametry: Metodika rastrovací elektronové mikroskopie elektrony o libovolně nízké energii s vysokým rozlišením obrazu, realizovaná pomocí tzv. katodové čočky.
Ekonomické parametry: Podstatné rozšíření zobrazovacích možností rastrovacího elektronového mikroskopu, získání nových typů obrazových kontrastů.
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: low energy electron microscopy * nano-diagnostics
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0138285