Výsledky vyhledávání
- 1.0574101 - ÚPT 2024 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Kolařík, V. - Stříteský, S. - Matějka, M. - Knápek, Alexandr - Těthal, T. - Krátký, S. - Meluzín, Petr - Voláková, V. - Lexa, P. - Mika, Filip - Chlumská, J. - Sadílek, Jakub - Horáček, Miroslav
Optický prvek pro technické aplikace na bázi počítačem generovaných hologramů.
[Optical element based on CGH for technical applications.]
Interní kód: APL-2021-18 ; 2021
Technické parametry: Velikost optického prvku 25 mm x 25 mm, kvaziperiodická struktura s víceúrovňovým profilem, rozlišení zápisu v osách X/Y 200 nm, výška reliéfu 1050 nm.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: doc. Ing. Alexandr Knápek, Ph.D., knapek@isibrno.cz.
Grant CEP: GA MPO(CZ) EG19_262/0020294
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: diffractive optical element * computer generated hologram * direct write
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0344501 - 2.0566540 - ÚPT 2023 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Mika, Filip - Krátký, Stanislav - Pokorná, Zuzana
Kalibrační standard pro metodu spektroskopii sekundárních elektronů v SEM.
[Calibration standard sample for secondary electron spectroscopy in SEM.]
Interní kód: APL-2022-11 ; 2022
Technické parametry: Kalibrační vzorek obsahující mikrometrové struktury s různých materiálů vykazující odlišnou emisivitu sekundárních elektronů. Tloušťka jednotlivých materiálů je 150um a šířka proužků ze stříbra a chromu je 2 respektive 1 um.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika, Ph.D.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: test sample * scanning electron microscope * secondary electron spectrometer
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0337867 - 3.0550826 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Mika, Filip - Pokorná, Zuzana - Dupák, Libor
Manipulátor s mikrometrickým posuvem pro miniaturizovaný spektrometr sekundárních elektronů.
[Manipulator with micrometric shift for a miniaturised secondary electron spectrometer.]
Interní kód: APL-2021-06 ; 2021
Technické parametry: Manipulátor držáku vzorku tvaru pravidelného osmihranu, kde pojezdy jsou realizovány formou tří bronzových pružin. Ty svírají mezi sebou úhel 120°, přičemž umožňují posun v rozsahu +- 1mm s přesností 10μm v každé ose nezávisle.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika, Ph.D., fumici@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: manipulator * scanning electron microscope * secondary electron spectrometer
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326134 - 4.0517195 - ÚPT 2020 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Mika, Filip - Dupák, Libor - Pokorná, Zuzana
Miniaturizovaný analyzátor sekundárních elektronů.
[Miniaturized secondary electron analyser.]
Interní kód: APL-2019-19 ; 2019
Technické parametry: Funkční vzorek byl vyroben s cílem ověřit vlastnosti návrhu a konstrukce miniaturizovaného spektrometru sekundárních elektronů umístitelného dovnitř komory rastrovacího elektronového mikroskopu přímo na manipulátor vzorku. Spektrometr obsahuje ve směru průletu elektronů tyto prvky: vzorek, elektrodu vymezující úhlový rozsah diagnostikovaných elektronů, dvojici elektrod toroidního tvaru, napěťový a detekční systém. Energie primárního svazku: 2 keV, energie zkoumaných elektronů 0–50 eV, výška 28 mm, průměr 35 mm
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika Ph.D., mika@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR TG03010046
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: secondary electron * energy filtering * toroidal analyser
Obor OECD: Coating and films
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302484 - 5.0096520 - ÚPT 2008 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Mika, Filip
Úhlově citlivý detektor pomalých zpětně odražených elektronů.
[Angular sensitive detector of low energy electrons.]
Interní kód: 5532 ; 2006
Technické parametry: Polohově nastavitelný detekční systém na bázi krystalu YAG.
Ekonomické parametry: Nelze přesně stanovit.
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: low energy electrons * scanning electron microscope
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0155869