Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0458106 - FZÚ 2016 RIV CZ eng V - Výzkumná zpráva
    Vaněček, Milan - Holovský, Jakub - Poruba, Aleš - Remeš, Zdeněk - Purkrt, Adam
    Characterization of amorphous and microcrystalline Si layers and ZnO layers on glass.
    Praha: Tel Solar AG, Trübbach, Switzerland, 2015. 22 s.
    Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
    Klíčová slova: optical properties * amorphous silicon * microcrystalline silicon * ZnO
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0258426