Výsledky vyhledávání

0303430 - URE-Y 990003 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Starý, V. - Olšovec, P. - Jurek, Karel - Peřina, Vratislav - Kohout, Jindřich
O možnosti současného měření složení a tloušťky tenkých polovodičových vrstev Ga_xIn_1-xAs_yP_1-y na podložce InP.
[Note on the simultaneous measurement of thickness and composition of Ga_xIn_1-xAs_yP_1-y/InP thin films.]
Ostrava: VŠB Technická univerzita, 1996. In: 12. Konference českých a slovenských fyziků. Sborník příspěvků. - (Lesňák, M.; Luňáček, J.; Pištora, J.), s. 515-517
[Konference českých a slovenských fyziků /12./. Ostrava (CZ), 02.09.1996-06.09.1996]
Klíčová slova: epitaxial layers * thin films * III-V semiconductors * electron probe analysis
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0113648