Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0501462 - FZÚ 2019 RIV CH eng M - Část monografie knihy
    Ondráček, Martin - Hapala, Prokop - Švec, Martin - Jelínek, Pavel
    Imaging charge distribution within molecules by scanning probe microscopy.
    Kelvin probe force microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2018 - (Sadewasser, S.; Glatzel, T.), s. 499-518. Springer Series in Surface Sciences, 65. ISBN 978-3-319-75686-8
    Grant CEP: GA ČR GJ17-24210Y
    Grant ostatní: AV ČR(CZ) Praemium Academiae
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: charge distribution * surfaces * molecules * Kelvin probe force microscopy * scanning quantum dot microscopy * high resolution atomic force microscopy
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0293485
     
     
  2. 2.
    0471613 - FZÚ 2017 RIV SG eng M - Část monografie knihy
    Kůsová, Kateřina - Hapala, Prokop - Jelínek, Pavel - Pelant, Ivan
    Band structure of silicon nanocrystals.
    Silicon Nanophotonics. Basic Principles, Present Status, and Perspectives. Singapore: Pan Stanford Publishing, 2016 - (Khriachtchev, L.), s. 109-144. ISBN 978-981-4669-76-4
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GBP108/12/G108; GA ČR GPP204/12/P235; GA ČR(CZ) GA14-02079S
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: silicon nanocrystals * band structure * luminescence properties
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0268973
     
     
  3. 3.
    0456656 - FZÚ 2016 RIV CH eng M - Část monografie knihy
    Jelínek, Pavel
    Theoretical challenges of simultaneous nc-AFM/STM experiments.
    Imaging and Manipulation of Adsorbates Using Dynamic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2015 - (Moriarty, P.; Gauthi, S.), s. 81-92. Advances in Atom and Single Molecule Machines. ISBN 978-3-319-17400-6
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-02079S
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: AFM * STM * DFT simulations * electron transport * atomic contrast
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0257152
     
     
  4. 4.
    0456646 - FZÚ 2016 RIV CH eng M - Část monografie knihy
    Hapala, Prokop - Ondráček, Martin - Stetsovych, Oleksandr - Švec, Martin - Jelínek, Pavel
    Simultaneous nc-AFM/STM measurements with atomic resolution.
    Noncontact Atomic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2015 - (Morita, S.; Giessibl, F.; Meyer, E.; Wiesendanger, R.), s. 29-49. NanoScience and Technology, 3. ISBN 978-3-319-15587-6
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-02079S
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: AFM * STM * DFT simulations * electron transport * atomic contrast
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0257148
     
     
  5. 5.
    0342573 - FZÚ 2011 RIV DE eng M - Část monografie knihy
    Pou, P. - Jelínek, Pavel - Pérez, R.
    Basic mechanisms for single atom manipulation in semiconductor systems with the FM-AFM.
    Noncontact Atomic Force Microscopy. Volume 2. Berlin: Springer, 2009 - (Morita, S.; Giessibl, F.; Wiesendanger, R.), s. 227-248. Nanoscience and Technology. ISBN 978-3-642-01494-9
    Grant CEP: GA ČR GA202/09/0775; GA AV ČR IAA100100905
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: AFM * DFT simulation * atomic manipulation
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0185275
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.