Výsledky vyhledávání
- 1.0367164 - ÚPT 2012 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona
Image contrasts in the scanning electron microscopy.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 49. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM * image contrast
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006671 - 2.0367163 - ÚPT 2012 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk
Mapping of dopants in silicon by injection of electrons.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 46. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: mapping dopants * semiconductors
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006670 - 3.0367162 - ÚPT 2012 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Frank, Luděk - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš
Prospects of the scanning low energy electron microscopy in materials science.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 42. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SLEEM * cathode lens mode
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006669 - 4.0353106 - ÚPT 2011 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Man, O. - Pantělejev, L. - Kouřil, M.
Mapping of the microscopic strain using scanning low energy electron microscopy.
Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2010 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 20. ISBN N.
[Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2010-18.02.2010]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM * SLEEM * UFG
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006216 - 5.0308436 - ÚPT 2008 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Wandrol, P. - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
Detekce sekundárních elektronů v REM.
[Detection of secondary electrons in SEM.]
Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 32. ISBN N.
[Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: detection systems * secondary electrons * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160920 - 6.0308431 - ÚPT 2008 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Hovorka, Miloš - Mika, Filip - Frank, Luděk
Možnosti zobrazení dopovaných křemíkových struktur v PEEM a LVSEM.
[Imaging of doped silicon structures using PEEM and LVSEM.]
Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 21. ISBN N.
[Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: dopants * PEEM * SEM * silicon
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160916 - 7.0050986 - ÚPT 2007 cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Hovorka, Miloš
Studium vlastností dopovaného křemíku pomocí fotoemisní elektronové mikroskopie s využitím energiového filtru.
[High-pass Energy filtered PEEM Imaging of Dopants in Silicon.]
PDS 2006 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronová optika. Brno: ÚPT AV ČR, 2006, s. 19-22. ISBN 80-239-7957-4.
[PDS 2006. Brno (CZ), 19.12.2006]
Grant CEP: GA ČR GA202/04/0281
Klíčová slova: silicon * photoemission electron microscopy * contrast
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140988 - 8.0022559 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Hovorka, Miloš
Vlnově optické kontrasty v rastrovacím elektronovém mikroskopu.
[Wave-optical contrasts in the ultra-high vacuum scanning electron microscope.]
PDS 2004 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronové optiky. Brno: ÚPT AV ČR, 2005, s. 19-20. ISBN 80-239-4561-0.
[PDS 2004. Brno (CZ), 15.03.2005]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: wave-optical contrasts * quantum size contrast * ultra-high vacuum scanning low-energy electron microscope
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111287