Výsledky vyhledávání
- 1.0379919 - ÚPT 2013 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Konvalina, Ivo - Lencová, B. - Zlámal, J. - Jirák, J.
New detection systems of secondary and backscattered electrons for environmental scanning electron microscopes.
Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 370:1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
[Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410; GA MŠMT EE.2.3.20.0103
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: environmental scanning electron microscope * detection systems * secondary electrons * backscattered electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210770 - 2.0353046 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jirák, J. - Čudek, P. - Neděla, Vilém
Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector in Variable Pressure Scanning Electron Microscopes.
Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I10.14: 1-2. ISBN 978-85-63273-06-2.
[International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: VPSEM * scintillation detector
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192396 - 3.0353039 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Jirák, J.
Newly Designed Ionisation Secondary Electron Detector with Electrostatic Separators for VP-ESEM.
Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I10.9: 1-2. ISBN 978-85-63273-06-2.
[International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: ISEDS * VPSEM * ESEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192389 - 4.0352541 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jirák, J. - Runštuk, Jiří - Špinka, J.
Problems of "in situ" specimen observation in ESEM.
11th Advanced Batteries, Accumulators and Fuel Cells. Brno: Brno University of Technology, 2010, s. 85-86. ISBN 978-80-214-4148-4.
[Advanced Batteries, Accumulators and Fuel Cells /11./ - ABAF. Brno (CZ), 19.09.2010-22.09.2010]
Grant CEP: GA ČR GA102/09/0314
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: ESEM * agressive specimen * in-situ observation.
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192030 - 5.0335269 - ÚPT 2010 RIV AT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Runštuk, Jiří - Neděla, Vilém - Čudek, P. - Jirák, J.
In-situ observation of salt crystallization using environmental scanning electron microscopy.
MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Graz: Verlag der Technischen Universität, 2009, Vol. 1: 225-226. ISBN 978-3-85125-062-6.
[MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./. Graz (AT), 30.08.2009-04.09.2009]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: crystallization * in-situ study * environmental SEM * salt
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/97905.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179778 - 6.0205153 - UPT-D 990056 RIV HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Klvač, Martin - Jirák, J.
Detector for Backscattered Electrons in Environmental SEM.
Proceedings of the 4th Multinational Congress on Electron Microscopy. Veszprém: University of Veszprém, 1999, s. 335-336.
[MCEM '99 /4./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Veszprém (HU), 05.09.1999-08.09.1999]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988; GA ČR GA102/98/0796
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100773 - 7.0204997 - UPT-D 980028 RIV MX eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Jirák, J. - Klvač, Martin - Špinka, J.
Detection of BSE signal at higher pressures in the specimen chamber.
Proceedings of the 14th International Congress on Electron Microscopy. Bristol: Institute of Physics Publishing Ltd., 1998 - (Benavides, H.; Yacamán, M.), s. 509-510. ISBN 0-7503-0568-1.
[ICEM /14./ - International Congress on Electron Microscopy. Cancun (MX), 31.08.1998-04.09.1998]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100617 - 8.0204980 - UPT-D 980008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Jirák, J. - Michálek, M. - Špinka, J.
Conditions for Specimen Observation in Environmental SEM.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation - 6th Seminar. Brno: Czechoslovak Society for Electron Microscopy, 1998 - (Müllerová, I.; Frank, L.), s. 15-16. ISBN 80-238-2333-7.
[Recent Trends /6./ in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský Dvůr (CZ), 29.06.1998-03.07.1998]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100600 - 9.0204979 - UPT-D 980007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Jirák, J. - Michálek, M. - Špinka, J.
Amplification of Signal Electrons in Gas Environment.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation - 6th Seminar. Brno: Czechoslovak Society for Electron Microscopy, 1998 - (Müllerová, I.; Frank, L.), s. 13-14. ISBN 80-238-2333-7.
[Recent Trends /6./ in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský Dvůr (CZ), 29.06.1998-03.07.1998]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100599 - 10.0204978 - UPT-D 980006 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Autrata, Rudolf - Romanovský, Vladimír - Jirák, J. - Klvač, Martin
Ionisation Detector for the Environmental SEM.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation - 6th Seminar. Brno: Czechoslovak Society for Electron Microscopy, 1998 - (Müllerová, I.; Frank, L.), s. 11-12. ISBN 80-238-2333-7.
[Recent Trends /6./ in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský Dvůr (CZ), 29.06.1998-03.07.1998]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100598