0047173 - ÚPT 2006 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Frank, LuděkNenabíjející vysokovakuový režim rastrovacího elektronového mikroskopu.
[Non-charging high vacuum mode of the scanning electron microscope.]
Interní kód: CRITEN ; 2002
Technické parametry: Metoda automatizovaného stanovení kritické energie elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu s katodovou čočkou, při níž se preparát nenabíjí, a procedura snímání lokálním nábojem nepoškozených mikrosnímků nevodivých preparátů ve vysokém vakuu.
Ekonomické parametry: Podstatné zjednodušení preparace nevodivých materiálů a živé hmoty pro mikroskopické pozorování, rozšíření rejstříku pracovních režimů mikroskopů.
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) IBS2065017
Klíčová slova: critical energy microscopy * electron microscopy of nonconductors * scanning electron microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0138161
