Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0205126 - UPT-D 990029 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    El Gomati, M. M. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    Combination of Scanning Auger and Very-Low-Energy Electron Microscopy.
    Proceedings of the International Centennial Symposium on the Electron. Cambridge: The University Press, 1998 - (Kirkland, A.; Brown, P.), s. 326-333. ISBN 1-86125-051-7.
    [Electron - Centennial Symposium. Cambridge (GB), 15.09.1997-17.09.1997]
    Grant CEP: GA ČR GA202/95/0280
    Grant ostatní: CEC(XE) CP93/12283
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100746
     
     
  2. 2.
    0205036 - UPT-D 980084 RIV NL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
    Diffraction contrast in cathode lens equipped Low-Energy SEM.
    Proceedings of the 11th European Congress on Electron Microscopy. Brussels: Committee of European Societies of Microscopy, 1998, s. 105-106. ISBN 2-9600163-0-0.
    [EUREM /11./ - European Congress on Electron Microscopy. Dublin (IE), 26.08.1996-30.08.1996]
    Grant CEP: GA ČR GA202/95/0280
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100656
     
     
  3. 3.
    0205032 - UPT-D 980080 RIV NL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Pejchl, David - Müllerová, Ilona
    Imaging in Low-Energy SEM equipped with separator of primary and signal electrons.
    Proceedings of the 11th European Congress on Electron Microscopy. Brussels: Committee of European Societies of Microscopy, 1998, s. 109-110. ISBN 2-9600163-0-0.
    [EUREM /11./ - European Congress on Electron Microscopy. Dublin (IE), 26.08.1996-30.08.1996]
    Grant CEP: GA ČR GA202/95/0280
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100652
     
     
  4. 4.
    0204958 - UPT-D 970094 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona
    Microscopy with slow electrons.
    Proceedings of the 3rd Multinational Congress on Electron Microscopy. Ljubljana: Jožef Stefan Institute, Ceramics Department, 1997, s. 273-278.
    [MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož (SI), 05.10.1997-08.10.1997]
    Grant CEP: GA ČR GA202/95/0280
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100578
     
     
  5. 5.
    0204907 - UPT-D 970042 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - El Gomati, M. M.
    Localised information in scanning electron beam excited imaging of surfaces.
    Proccedings of the International Seminar New Trends in Surface Analysis NTSA '97. Bratislava: Slovak University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Information Technology, 1997 - (Breza, J.; Liday, J.; Frank, L.; Král, J.), s. 1-4. ISBN 80-227-1010-5.
    [NTSA '97 - New Trends in Surface Analysis. Bratislava (SK), 26.11.1997-27.11.1997]
    Grant CEP: GA ČR GA202/95/0280; GA ČR GA202/96/0961
    Grant ostatní: CEC(XE) CP93:12283
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100527
     
     
  6. 6.
    0204906 - UPT-D 970041 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    New types of contrast at low electron energies.
    Proccedings of the International Seminar New Trends in Surface Analysis NTSA '97. Bratislava: Slovak University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Information Technology, 1997 - (Breza, J.; Liday, J.; Frank, L.; Král, J.), s. 5-8. ISBN 80-227-1010-5.
    [NTSA '97 - New Trends in Surface Analysis. Bratislava (SK), 26.11.1997-27.11.1997]
    Grant CEP: GA ČR GA202/95/0280
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100526
     
     
  7. 7.
    0204904 - UPT-D 970039 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Zadražil, Martin - Frank, Luděk
    Low-energy SEM imaging of bevelled multilayers.
    Proceedings of the 3rd Multinational Congress on Electron Microscopy. Ljubljana: Jožef Stefan Institute, Ceramics Department, 1997, s. 297-298.
    [MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož (SI), 05.10.1997-08.10.1997]
    Grant CEP: GA ČR GA202/95/0280
    Grant ostatní: CEC(XE) CP93:12283
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100524