Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0205643 - UPT-D 20030025 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Frank, Luděk - Matsuda, K. - Hrnčiřík, Petr - Müllerová, Ilona
    Low Energy Contrast of Metal Matrix Composite in SEM.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 9, Sup. 3 (2003), s. 328 - 329. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
    [MC 2003. Dresden, 07.09.2003-12.09.2003]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1065304
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: low energy contrasts * scanning electron microscope * aluminium alloys
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.648, rok: 2003
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101256
     
     
  2. 2.
    0205642 - UPT-D 20030024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    Contrast Mechanisms in the Scanning Low Energy Electron Microscopy.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 9, Sup. 3 (2003), s. 120 - 121. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
    [MC 2003. Dresden, 07.09.2003-12.09.2003]
    Grant CEP: GA AV ČR IPP1050128; GA AV ČR IAA1065304
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: scanning electron microscope * primary electrons * cathode lens
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.648, rok: 2003
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101255
     
     
  3. 3.
    0205639 - UPT-D 20030021 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Čižmár, Petr - Müllerová, Ilona
    New Multichannel Electron Energy Analyzer with Cylindrically Symmetrical Electrostatic Field.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 9, Sup. 3 (2003), s. 18 - 19. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
    [MC 2003. Dresden, 07.09.2003-12.09.2003]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1065304
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: Auger spectroscopy * surface examination * scanning electron microscope
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.648, rok: 2003
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101252
     
     
  4. 4.
    0100008 - UPT-D 20040008 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    Contrast at Very Low Energies of the Gold/Carbon Specimen for Resolution Testing.
    [Kontrast při velmi nízkých energiích u vzorku zlato/uhlík pro testování rozlišení.]
    Scanning. Roč. 25, 18/24 (2004), s. 18-24. ISSN 0161-0457. E-ISSN 1932-8745
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1065304
    Klíčová slova: scanning electron microscope * very low energy * cathode lens
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 0.892, rok: 2004
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0007515
     
     
  5. 5.
    0100007 - UPT-D 20040007 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    El Gomati, M. M. - Wells, T. C. R. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Jayakody, H.
    Why is it That Differently Doped Regions in Semiconductors are Visible in Low Voltage SEM?
    [Proč jsou různě dopované oblasti v polovodiči viditelné v nízko-napěťovém REM?]
    IEEE Transactions on Electron Devices. Roč. 51, č. 2 (2004), s. 288-292. ISSN 0018-9383. E-ISSN 1557-9646
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1065304
    Klíčová slova: doping of semiconductors * SEM imaging * inspection of patterns
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 2.036, rok: 2004
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0007514
     
     
  6. 6.
    0082849 - ÚPT 2007 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Čižmár, Petr - Müllerová, Ilona - Jacka, M. - Pratt, A.
    New multichannel electron energy analyzer with cylindrically symmetrical electrostatic field.
    [Nový mnohakanálový analyzátor energií elektronů s válcově symetrickým elektrostatickým polem.]
    Review of Scientific Instruments. Roč. 78, č. 5 (2007), 053714:1-5. ISSN 0034-6748. E-ISSN 1089-7623
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1065304
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: electron energy analyzer * multichannel analyzer * Auger analysis
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.384, rok: 2007
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0146291
     
     
  7. 7.
    0028799 - ÚPT 2006 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
    Frank, Luděk
    Noise in secondary electron emission: the low yield case.
    [Šum sekundární emise elektronů při nízkém emisním výtěžku.]
    Journal of Electron Microscopy. Roč. 54, č. 4 (2005), s. 361-365. ISSN 0022-0744
    Grant CEP: GA AV ČR(CZ) IAA1065304
    Klíčová slova: secondary electrons * noise * SEM image noise * secondary emission noise * statistics of secondary electrons * non-Poisson factor
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 0.720, rok: 2005
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0118707
     
     
  8. 8.
    0022382 - ÚPT 2006 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
    Matsuda, K. - Ikeno, S. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    The potential of the scanning low energy electron microscopy for the examination of aluminum based alloys and composites.
    [Využití rastrovací elektronové mikroskopie s pomalými elektrony při studiu slitin a kompozitů na bázi hliníku.]
    Journal of Electron Microscopy. Roč. 54, č. 2 (2005), s. 109-117. ISSN 0022-0744
    Grant CEP: GA AV ČR(CZ) IAA1065304
    Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * precipitates in Al-Mg-Si alloys * Al-alloy-base/ceramic composite
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 0.720, rok: 2005
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111123