Výsledky vyhledávání
- 1.0541300 - ÚFCH JH 2022 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Hummel, S. - Elibol, K. - Zhang, D. - Sampathkumar, Krishna - Frank, Otakar - Eder, D. - Schwalb, C. - Kotakoski, J. - Meyer, J.C. - Bayer, B. C.
Direct visualization of local deformations in suspended few-layer graphene membranes by coupled in situ atomic force and scanning electron microscopy.
Applied Physics Letters. Roč. 118, č. 10 (2021), č. článku 103104. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) 8J18AT005
Institucionální podpora: RVO:61388955
Klíčová slova: Scanning electron microscopy * Graphene * Atomic force microscopy
Obor OECD: Physical chemistry
Impakt faktor: 3.971, rok: 2021
Způsob publikování: Open access
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0318881Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0541300.pdf 3 3.2 MB open access Vydavatelský postprint povolen - 2.0531946 - ÚFCH JH 2021 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Androulidakis, Ch. - Koukaras, E. N. - Sampathkumar, Krishna - Řáhová, Jaroslava - Galiotis, C. - Frank, Otakar
Hierarchy of nanoscale graphene wrinkles on compliant substrate: Theory and experiment.
Extreme Mechanics Letters. Roč. 40, OCT 2020 (2020), č. článku 100948. ISSN 2352-4316. E-ISSN 2352-4316
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA17-18702S; GA MŠMT(CZ) 8J18AT005; GA MŠMT EF16_026/0008382
Institucionální podpora: RVO:61388955
Klíčová slova: Graphene * Hierarchy * Wrinkles * Wrinklon
Obor OECD: Physical chemistry
Impakt faktor: 4.567, rok: 2020
Způsob publikování: Omezený přístup
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0310580Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0531946.pdf 0 964 KB Vydavatelský postprint vyžádat