Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0339531 - FZÚ 2010 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Sadewasser, S. - Jelínek, Pavel - Fang, Ch.-K. - Custance, Ó. - Yamada, Y. - Sugimoto, Y. - Abe, M. - Morita, S.
    New insights on atomic-resolution frequency-modulation Kelvin-probe force-microscopy imaging of semiconductors.
    Physical Review Letters. Roč. 103, č. 26 (2009), 266103/1-266103/4. ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114
    Grant CEP: GA ČR GA202/09/0545; GA AV ČR IAA100100905
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: KPFM * atomic force microscopy * DFT * atomic resolution * semiconductor surface
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 7.328, rok: 2009
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0183034
     
     
  2. 2.
    0316218 - FZÚ 2009 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Sugimoto, Y. - Pou, P. - Custance, Ó. - Jelínek, Pavel - Abe, M. - Perez, R. - Morita, S.
    Complex patterning by vertical interchange atom manipulation using atomic force microscopy.
    [Komplexní vzorkování pomocí vertikální výměnné manipulace atomu pomocí mikroskopu atomárních sil.]
    Science. Roč. 322, č. 5900 (2008), 413-417. ISSN 0036-8075. E-ISSN 1095-9203
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1010413
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: AFM * atomic manipulation * DFT simulation
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 28.103, rok: 2008
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0166209
     
     
  3. 3.
    0085137 - FZÚ 2008 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Sugimoto, Y. - Jelínek, Pavel - Pou, P. - Abe, M. - Morita, S. - Pérez, R. - Custance, Ó.
    Mechanism for room-temperature single-atom lateral manipulations on semiconductors using dynamic force microscopy.
    [Mechanismus laterální manipulace jednotlivých atomů polovodičů při pokojových teplotách pomocí dynamického mikroskopu sil.]
    Physical Review Letters. Roč. 98, č. 10 (2007), 106104/1-106104/4. ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100100616; GA MŠMT 1K05020
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: AFM * DFT simulations * atomic manipulation
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 6.944, rok: 2007
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0147707
     
     
  4. 4.
    0085133 - FZÚ 2008 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Sugimoto, Y. - Pou, P. - Abe, M. - Jelínek, Pavel - Pérez, R. - Morita, S. - Custance, Ó.
    Chemical identification of individual surface atoms by atomic force microscopy.
    [Chemická identifikace jednotlivých atomů na povrchu pomocímikroskopu atomárních sil.]
    Nature. Roč. 446, - (2007), s. 64-67. ISSN 0028-0836. E-ISSN 1476-4687
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100100616; GA MŠMT 1K05020
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: AFM * DFT simulation * dynamic forces spectroscopy
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 28.751, rok: 2007
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0147704
     
     
  5. 5.
    0041140 - FZÚ 2007 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Sugimoto, Y. - Pou, P. - Custance, Ó. - Jelínek, Pavel - Morita, S. - Pérez, R. - Abe, M.
    Real topography, atomic relaxations and short-range chemical interactions in atomic force microscopy: the case of the α-Sn/Si(111)-(√3 x √3) R30 degrees surface,.
    [Reálná topografie, atomární relaxace a krátkodosahové chemické interakce v mikroskopu atomárních sil: povrch α-Sn/Si(111)-(√3 x √3) R 30 stupňů celsia.]
    Physical Review. B. Roč. 73, č. 20 (2006), 205329/1-205329/9. ISSN 1098-0121
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) 1K05020
    Grant ostatní: HPC-EUROPA(XE) RII3-CT-2003-506079
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: AFM * force spectroscopy * first principles simulations
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 3.107, rok: 2006
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0134709
     
     
  6. 6.
    0040138 - FZÚ 2007 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Oyabu, N. - Pou, P. - Sugimoto, Y. - Jelínek, Pavel - Abe, M. - Morita, S. - Pérez, R. - Custance, Ó.
    Single atomic contact adhesion and dissipation in dynamic force microscopy.
    [Adhese atomárního kontaktu a dissipace v dynamickém mikroskopu sil.]
    Physical Review Letters. Roč. 96, č. 10 (2006), 106101/1-106101/4. ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) 1K05020
    Grant ostatní: STREP project FORCETOOL(XE) NMP4CT-2004-013684
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: nc-AFM * DFT calculations * Atomic Adhesion Dissipation
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 7.072, rok: 2006
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0133974
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.