Výsledky vyhledávání
- 1.0390483 - FZÚ 2013 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Bartoš, Igor - Romanyuk, Olexandr
Layer-resolved photoelectron diffraction from Si(001) and GaAs(001).
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. Roč. 185, č. 11 (2012), s. 512-517. ISSN 0368-2048. E-ISSN 1873-2526
Grant CEP: GA ČR GAP204/10/0035
Grant ostatní: AV ČR(CZ) M100101201; AV ČR(CZ) AP0701; Murata Science Foundation(JP) 00295
Program: Akademická prémie - Praemium Academiae
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: photoelectron diffraction * GaAs(001) * Si(001) * semiconductor surfaces * electron attenuation length
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.706, rok: 2012
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0368204812001326
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0219337 - 2.0384858 - FZÚ 2013 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Bartoš, Igor - Cukr, Miroslav - Jiříček, Petr
Layer-resolved photoelectron diffraction: electron attenuation anisotropy in GaAs.
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. Roč. 185, 5-7 (2012), s. 184-187. ISSN 0368-2048. E-ISSN 1873-2526
Grant ostatní: AV ČR(CZ) AP0701
Program: Akademická prémie - Praemium Academiae
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: low-energy electron attenuation in GaAs * layer-resolved photoelectron diffraction * synchrotron radiation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.706, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0214346 - 3.0348476 - FZÚ 2011 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Bartoš, Igor - Krasovskii, E.E.
Attenuation of excited electrons at crystal surfaces.
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. Roč. 180, 1-3 (2010), s. 66-68. ISSN 0368-2048. E-ISSN 1873-2526
Grant CEP: GA ČR GA202/07/0601
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: surface * electron attenuation * photoelectron diffraction * low energy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.750, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0189004 - 4.0336724 - FZÚ 2010 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Romanyuk, Olexandr - Bartoš, Igor
Electron attenuation anisotropy at crystal surfaces from LEED.
[Hloubka tlumeni elektronu v krystalech z LEEDu.]
Surface Science. Roč. 603, č. 17 (2009), s. 2789-2792. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
Grant CEP: GA ČR GA202/07/0601; GA AV ČR IAA100100628
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: electron attenuation length, low energy electron diffraction, photoelectron diffraction, electron–solid scattering and transmission, copper * low energy electron diffraction * photoelectron diffraction * electron–solid scattering and transmission * copper
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.798, rok: 2009
http://dx.doi.org/10.1016/j.susc.2009.07.024
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180900 - 5.0324292 - FZÚ 2009 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Bartoš, Igor
Anisotropy of the angle resolved electron attenuation at crystal surfaces.
[Anizotropie úhlově rozlišeného tlumení elektronů u povrchů krystalů.]
Surface Science. Roč. 603, č. 2 (2009), 369-372. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
Grant CEP: GA ČR GA202/07/0601
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Klíčová slova: copper * photoelectron diffraction * angle resolved photoemission * angle resolved electron attenuation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.798, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0172035 - 6.0098754 - FZÚ 2008 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Zemek, Josef - Jiříček, Petr - Houdková, Jana - Olejník, Kamil - Jablonski, A.
Attenuation of photoelectrons and Auger electrons leaving nickel deposited on a gold surface.
[Útlum fotoelektronů z Augerových elektronů v niklu na zlatě.]
Surface and Interface Analysis. Roč. 39, - (2007), s. 916-921. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: photoelectron spectra * Auger-electron spectra * electron scattering * electron attenuation * attenuation lenght * effective attenuation length * EAL * QUASES-Tougaard * SESSA
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.036, rok: 2007
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0157579