Vytisknout
0522221 - ÚPT 2020 US eng A - Abstrakt
Mikmeková, Šárka - Jánský, P. - Kolařík, V. - Müllerová, Ilona
Surface imaging with UHV SLEEM and SEM LEEM.
Microscopy and Microanalysis. Cambridge University Press. Roč. 25, S2 (2019), s. 444-445. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting. 04.08.2019-08.08.2019, Portland]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: surface imaging * UHV SLEEM * SEM LEEM
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0306716
Mikmeková, Šárka - Jánský, P. - Kolařík, V. - Müllerová, Ilona
Surface imaging with UHV SLEEM and SEM LEEM.
Microscopy and Microanalysis. Cambridge University Press. Roč. 25, S2 (2019), s. 444-445. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting. 04.08.2019-08.08.2019, Portland]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: surface imaging * UHV SLEEM * SEM LEEM
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0306716