Košík

0556001 - FZÚ 2023 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Domonkos, M. - Jackivová, Rajisa - Pathó, A.
Image analysis algorithm for the verification of hexagonal symmetry in spherical nanostructures.
Microelectronic Engineering. Roč. 251, Jan (2022), č. článku 111635. ISSN 0167-9317. E-ISSN 1873-5568
Výzkumná infrastruktura: CzechNanoLab - 90110
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: image analysis * nanosphere lithography * defect detection * hexagonal ordering * scanning electron microscopy * Python
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 2.3, rok: 2022
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1016/j.mee.2021.111635
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0330401