0550701 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Hrubanová, Kamila - Láznička, Tomáš - Krzyžánek, Vladislav - Samek, OtaDržák vzorků pro FIB-SEM umožňující analýzu vzorku při nízkých teplotách.
[A sample holder for FIB-SEM at low temperature.]
Interní kód: APL-2021-10 ; 2021
Technické parametry: Kryo-držák s antikontaminátorem je navržen pro účely pozorování hluboce zamražených vzorků v rastrovacích elektronových mikroskopech (SEM) vybavených kryo-systémem typu Bal-Tec (Balzers, Lichtenštajnsko) a Leica microsystems (Vídeň, Rakousko). Držák je uzpůsoben pro uchycení kovových terčíků používaných v systémech pro vysokotlaké mražení High Pressure Freezing (HPF), výrobců Leica microsystems (Vídeň, Rakousko) a Engineering Office M. Wohlwend GmbH (Sennwald, Švýcarsko), a to tak, aby bylo možné pozorování jak pomocí detektorů sekundárních a zpětně odražených elektronů, tak pro použití v mikroskopech typu FIB-SEM. Kryo-držák je navržen takovým způsobem, aby jej bylo možné přenášet pomocí kryo-vakuového transferu VCT100 (Bal-Tec, Balzers, Lichtenštajnsko a Leica microsystems, Vídeň, Rakousko), tzn. je zachována jeho kompatibilita s přenosnou tyčí transferu. Z důvodu využití pro korelativní zobrazování s Ramanovým mikrospektrometrem (InVia, Renishaw) je horní, vyměnitelná část držáku opatřena značkami (viz. Technická dokumentace). Kryo-držák umožňuje pevné uchycení dvou HPF terčíku o průměru 3 nebo 6 mm v závislosti na jeho variantě, pevné uchycení HPF terčíku je vyřešeno pomocí svěracího mechanismu a to tak, že při zašroubování stavěcího šroubu sevře stolek terčík mezi svými čelistmi. Součástí kryo-držáku je antikontaminátor – pohyblivý štít, který se při přenosu překlopí nad uchycené vzorky pomocí otočného pohybu tyčí, která je součástí transferu VCT100 (Leica microsystems).
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Kamila Hrubanová, Ph.D., hrubanova@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Cryo-SEM * Raman spectroscopy * electron microscopy * FIB-SEM
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326006
