Košík

0546598 - FZÚ 2022 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Izsák, Tibor - Vanko, G. - Babčenko, Oleg - Vincze, A. - Vojs, M. - Zaťko, B. - Kromka, Alexander
Influence of SiON interlayer on the diamond/GaN heterostructures studied by Raman and SIMS measurements.
Materials Science and Engineering B-Advanced Functional Solid-State Materials. Roč. 273, Nov. (2021), č. článku 115434. ISSN 0921-5107. E-ISSN 1873-4944
Grant CEP: GA MŠMT LM2018110; GA MŠMT(CZ) 8X20035; GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000760
Grant ostatní: OP VVV - SOLID21(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000760
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: polycrystalline diamond * GaN * Raman spectroscopy * stress * SIMS
Obor OECD: Coating and films
Impakt faktor: 3.407, rok: 2021
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1016/j.mseb.2021.115434
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0323195