Košík

0543063 - ÚPT 2022 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Řiháček, Tomáš - Horák, M. - Schachinger, T. - Mika, Filip - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Fořt, Tomáš - Radlička, Tomáš - Johnson, C. W. - Novák, L. - Seďa, B. - McMorran, B.J. - Müllerová, Ilona
Beam shaping and probe characterization in the scanning electron microscope.
Ultramicroscopy. Roč. 225, June (2021), č. článku 113268. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Electron diffraction * SEM * Electron beam structuring * Spot shape measurement * Electron vortex beam
Obor OECD: Particles and field physics
Impakt faktor: 2.994, rok: 2021
Způsob publikování: Open access
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399121000589
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0320365