Košík

0541681 - ÚFCH JH 2022 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Gutiérrez-Fernández, E. - Rodriguez, Álvaro - García-Gutiérrez, M. C. - Nogales, A. - Rebollar, E. - Solano, E. - Ezquerra, T. A.
Photoinduced Resist-free Imprinting (PRI) in fullerene thin films as revealed by Grazing Incidence Small-angle X-ray scattering.
Applied Surface Science. Roč. 548, MAY 2021 (2021), č. článku 149254. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Institucionální podpora: RVO:61388955
Klíčová slova: Photoinduced Resist-free Imprinting (PRI) * Grazing Incidence Small-angle X-ray Scattering (GISAXS) * Laser Induced Periodic Surface Structures (LIPSS) * Fullerene (PCBM)
Obor OECD: Physical chemistry
Impakt faktor: 7.392, rok: 2021
Způsob publikování: Omezený přístup
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0319212