Košík

0539686 - ÚJF 2021 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Mikula, Pavol - Šaroun, Jan - Stammers, James H. - Em, V.
High-Resolution Analysis Using Bent Perfect Crystal in Powder Diffraction: Part II.
Journal of Surface Investigation-X-Ray Synchrotron and Neutron Techniques. Roč. 14, SUPPL 1 (2020), s. 151-155. ISSN 1027-4510
Grant CEP: GA MŠMT LM2015056; GA MŠMT LM2010011; GA MŠMT LM2015048
Výzkumná infrastruktura: Reactors LVR-15 and LR-0 II - 90120
Institucionální podpora: RVO:61389005
Klíčová slova: powder diffraction * focusing * bent crystal analyzer
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1134/S1027451020070332
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0317397