Košík

0536979 - ÚPT 2021 CZ eng A - Abstrakt
Konvalina, Ivo - Daniel, Benjamin - Zouhar, Martin - Paták, Aleš - Piňos, Jakub - Radlička, Tomáš - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - Materna Mikmeková, Eliška
Study of electron scattering phenomena of advanced materials by UHV SLEEM/ToF.
Microscopy 2020. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2020. s. 95-96.
[Microscopy 2020. 06.10.2020-07.10.2020, Lednice]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron scattering phenomena
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314731