Košík

0535911 - ÚACH 2021 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Zenou, V. Y. - Bertolotti, F. - Guagliardi, A. - Toby, B. H. - von Dreele, R. B. - Bakardjieva, Snejana
In situ high-temperature X-ray diffraction study of Sc-doped titanium oxide nanocrystallites.
Journal of Applied Crystallography. Roč. 53, č. 6 (2020), s. 1452-1461. ISSN 0021-8898. E-ISSN 1600-5767
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA18-15613S
Institucionální podpora: RVO:61388980
Klíčová slova: Rietveld analysis * Debye function analysis * Ti site-occupancy factor * Sc doping defects * high-resolution transmission electron microscopy * HRTEM image analysis
Obor OECD: Inorganic and nuclear chemistry
Impakt faktor: 3.304, rok: 2020
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1107/S1600576720012017
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314162